1996 Fiscal Year Annual Research Report
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07555188
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| Research Institution | Osaka University |
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Principal Investigator |
白井 泰治 大阪大学, 工学部, 教授 (20154354)
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| Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) |
西谷 滋人 京都大学, 工学研究科, 助手 (50192688)
荒木 秀樹 大阪大学, 工学部, 助手 (20202749)
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| Keywords | 陽電子ビーム / 陽電子寿命 / 材料評価 / 格子欠陥 |
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| Research Abstract |
いかなる試料についても,任意の試験条件(温度・圧力)下で,しかも簡便に陽電子寿命測定を可能にする新しい材料評価装置の試作・開発を進めた.新装置は,線源からの白色陽電子を磁場レンズを用いて高エネルギー部を選別し,陽電子自身でスタート信号を取ったあと試料に照射し,消滅ガンマ線でストップ信号を取る全く新しい原理に基づいている.
1.前年度に設計製作した各構成部分を組立て,システム全体の調整を行った.
2.半導体シリコン結晶に対して,新装置の性能の実証試験を実施した.
3.その結果システム全体の時間分解能が385psであることが判明した.
4.この時間分解能を決めているのが陽電子自身でスタート信号を取るための検出部にあることを突き止めた.
5.これを改善するためにアルミニウム製超高真空容器の一部を設計変更し,あらたに製作した.
6.スタート信号を取り出す部分を,プラスチックシンチレータとライトガイドを用いる従来法から,全く新しい検出法に更新した.
7.新システム全体の組立調整を行い,高速陽電子ビームを用いる新しい材料評価装置の最終調整を行っている.
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Research Products
(1 results)
