1995 Fiscal Year Annual Research Report
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07780433
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| Research Institution | Shiga University |
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Principal Investigator |
窪田 英明 滋賀大学, 経済学部, 助手 (30234496)
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| Keywords | X線スペクトル / 散乱線 / 直接線 / Ge検出器 / 散乱線含有率 / X線写真コントラスト / 被曝線量 |
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| Research Abstract |
京都工芸繊維大学工芸学部電子情報工学科・金森研究室のX線スペクトル測定用の設備を利用し、散乱X線スペクトルの測定を行った。実験は、実際のX線診断での条件を考慮して、照射野の面積、アクリル被写体の厚さ、散乱X線の最大入射角(円錐形コリメータのエッジ角度)をさまざまに組み合わせて行った。管電圧はごく一般的に使用される70kVを選択した。検出器には、大きな散乱角のX線光子も検出できるように、結晶の直径が大きい(35.7mmφ)Ge検出器を使用した。アクリル被写体のビーム軸中心上に鉛ディスクをつけて、散乱線だけのスペクトルを、鉛ディスクを外して、散乱線と直接線を合わせたスペクトルを測定し、引き算を行って、直接線のスペクトルを求めた。この測定で得た散乱線と直接線のX線スペクトル分離データ(数値データ)を、備品として購入した高速のパーソナルコンピュータで効率よく補正計算を行って、全光子数、平均光子エネルギー、全光子エネルギー、照射線量、増感紙・フィルム系での相対蛍光量および散乱線含有率、等の諸量を求めた。
本実験配置で求めたX線スペクトル分離データは、画像記録面のある一点に入射するX線光子のエネルギー、個数、角度分布の情報を含んでいる。そこで、アクリル被写体中にX線透過率がわずかに異なるような簡単なモデルを想定して、実験で求めた散乱線含有率をX線写真のコントラストと結び付けた。さらに、人間の最小識別コントラストを考慮して、診断に支障がなく、かつ、被曝線量が最小になる場合の散乱線含有率と、その場合の被曝線量をアクリル被写体での表面線量から近似的に求めることができた。
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Research Products
(6 results)
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[Publications] Hidetaka Arimura: "X-ray tube voltage dependence of Wiener spectra of screen structure mottle recorded on front and back emulsions" Optical Review. 2. 154-158 (1995)
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[Publications] Hidetaka Arimura: "Wiener spectra of quantum mottles and structure mottles considering the effects of crossover exposure for front and back emulsions" Journal of Image Science and Technology. 39. 148-156 (1995)
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[Publications] 滝川厚: "散乱X線スペクトルのX線写真の画質と被曝線量に及ぼす効果" 放射線医学物理. 15. 41-52 (1995)
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[Publications] Hitoshi Kanamori: "Optimum exposure factors for soft x-ray radiographs for the best object recognition" SPIE Proceedings. 2501. 328-335 (1995)
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[Publications] Masao Matsumoto: "Equivalent spatial frequency and optimum film densities for the perceptibility of radiographic contrast of step-edge images" Journal of Photographic Science. 43. 99-102 (1995)
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[Publications] Yoshiyuki Asai: "Psychophysical RMS granularity for the evaluation of radiographic mottle" Journal of Photographic Science. 43. 103-107 (1995)
