1998 Fiscal Year Annual Research Report
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08242102
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| Research Category |
Grant-in-Aid for Scientific Research on Priority Areas (A)
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| Research Institution | The University of Tokyo |
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Principal Investigator |
佐久間 健人 東京大学, 大学院・工学系研究科, 教授 (50005500)
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| Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) |
相澤 龍彦 東京大学, 大学院・工学系研究科, 教授 (10134660)
渡辺 忠雄 東北大学, 工学系研究科, 教授 (40005327)
村上 澄男 名古屋大学, 工学部, 教授 (10023053)
馬越 佑吉 大阪大学, 工学部, 教授 (00029216)
牧 正志 京都大学, 大学院・工学系研究科, 教授 (10026247)
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| Keywords | 超塑性 / 粒界すべり / 結晶粒界 / 金属 / セラミックス / 金属間化合物 |
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| Research Abstract |
平成10年度には、主として以下の3件の会議において本領域の研究成果を公表した。
(1) 国際シンポジウムPricm-3,特定セッション“Superplasticity and Superplastic Forming",(1998年7月12日〜16日、Honolulu)
(2) 国際シンポジウム'Towards Innovation in Superplasticity II",(1998年9月21日〜24日、神戸)
(3) 特定領域研究公開報告会「超塑性の新しい展開」、(1998年12月11日〜12日、京都)
これらの発表会のうち、(2)は本領域の総括班が主催した国際会議であり、諸外国から一流の研究者の参加を得て極めてレベルの高い会議であった。これらの会議で公表された数々の成果の中でも、例えば超塑性から結晶粒界塑性を目指したアプローチなど、本領域の活動によって初めてもたらされた斬新な成果として、国内外から高く評価されている。
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Research Products
(6 results)
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[Publications] T.Kondo,Y.Takigawa,Y.Ikuhara and T.Sakuma: "Critical assessments of tensile ductility in superplastic TZP and TiO_2-doped TZP" Mater.Trans.JIM. 39. 1108-1114 (1998)
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[Publications] A.H.Chokshi,Y.Ikuhara,I.A.Hines and I.Sakuma: "The influence of trace impurities on the mechanical characterisitics of a superplastic 2mol% yttria stabilized zirconia" Acta Mater. 46. 5557-5568 (1998)
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[Publications] P.Thavorniti,Y.Ikuhara and T.Sakuma: "Microstructural characterization of superplatic SiO_2-doped TZP with a small amount of oxide addition" J.Am.Ceram.Soc. 81. 2927-2932 (1998)
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[Publications] J.Zhao,Y.Ikuhara and T.Sakuma: "Grain growth of SiO_2-added zirconia annealed in the cubic/tetragonal two-phase region" J.Am.Ceram.Soc. 81. 2087-2092 (1998)
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[Publications] Y.Takigawa Y.Yoshizawa and T.Sakuma: "Superplasticity in Al_2O_3-20vol% Spinel (MgO・1.5Al_2O_3)ceramics" Ceram.Int. 24. 61-66 (1998)
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[Publications] Y.Ikuhara,I.Tanaka,P.Thavorniti and T.Sakuma: "Grain boundary structure and chemical bonding state of superplastic SiO_2-doped TZP" J.Electron Microscopy. 46. 467-472 (1997)
