1997 Fiscal Year Annual Research Report
ヒト歯牙電気刺激法による多チャンネル型体性感覚誘発電位計測装置の開発
Project/Area Number |
08557112
|
Research Institution | Tokyo Medical and Dental University |
Principal Investigator |
海野 雅浩 東京医科歯科大学, 歯学部, 教授 (90014125)
|
Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) |
深山 治久 東京医科歯科大学, 歯学部, 助手 (20189921)
織田 暢夫 東京工業大学, 工学部, 名誉教授
|
Keywords | 電気刺激 / 誘発脳波 / 体性感覚誘発電位 / ランダム刺激 / 広範囲侵害抑制性調節 |
Research Abstract |
身体のある部位に侵害刺激(痛覚あるいは温度覚刺激)を与えると、他の部位に与えられていた侵害性刺激に対する反応が低下する現象が観察されている。この現象を広範囲侵害抑制性調節という。この現象は、1979年にLe Barsらによって初めて報告された。その後、ラットやヒトでさまざまな報告がなされている。ところで、ヒトの三叉神経支配領域での侵害刺激に対する応答が、分節外の侵害刺激で抑制を受けるかどうかは明らかではない。そこで、歯に電気的痛み刺激を与えて生じる体性感覚誘発電位(SEP:somatosensory evoked potentials)が、手肢の侵害刺激によってどのような反応を示すかを観察した。健全な上顎右側中切歯唇面に刺激用電極を装着し、刺激幅1msec.の単発矩形波を1Hzで歯に与えた。歯への電気刺激によって生じるSEPを記録するために、脳波記録用電極をC_ZとF_Zに置き、誘発電位検査装置(MEB-5304,日本光電社製)にて記録した。手肢の侵害刺激は、左腕手首の正中神経走行部の皮膚に電極を装着し、刺激条件は10分間,96Hzとした。SEPは、痛みの強さを反映する潜時150〜250msの後期遅成分の振幅を観察し、正中神経刺激前,刺激中,刺激後5,10,15,20分の計6回を記録した。そして同時に、各測定時にVisual Analogue Scale (VAS)を用いて電気刺激後の歯の痛みを評価した。結果として、SEPの後期遅成分の振幅が、正中神経刺激中はわずかの減少であったが、正中神経刺激5分後では27.2%減少し、VAS評価でも25.1%の減少をみた。このように、分節外侵害刺激により歯牙刺激由来のSEPの後期遅成分の振幅の減少が観察された。
|