1997 Fiscal Year Annual Research Report
Project/Area Number |
09246102
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Research Category |
Grant-in-Aid for Scientific Research on Priority Areas
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Research Institution | The University of Tokyo |
Principal Investigator |
相原 博昭 東京大学, 大学院・理学系研究科, 助教授 (60167773)
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Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) |
金行 健治 東京工業大学, 理学部, 助手 (30224629)
渡邊 靖志 東京工業大学, 理学部, 教授 (40126199)
長島 順清 大阪大学, 大学院・理学研究科, 教授 (90044768)
羽澄 昌史 大阪大学, 大学院・理学研究科, 助手 (20263197)
田島 宏康 東京大学, 大学院・理学系研究科, 助手 (80222107)
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Keywords | CP非保存 / B中間子 / Bファクトリー / 小林・益川理論 / 超対称標準理論 / 位置検出器 / ピクセル検出器 / 集積回路 |
Research Abstract |
本年度は、東京大学に高速CPU(アルファチップ)6台からなるマルチCPUシステムを構築し、Bファクトリー加速器におけるCP非保存反応の詳細なシミュレーションを行なった。その結果、B中間子が2個のチャーム中間子に崩壊する反応の測定方法、B中間子の崩壊位置の測定方法とその系統誤差、CP非保存パラメーターのB中間子崩壊点からの抽出方法などを極めて詳細に定めることができた。また、超対称標準理論の予言するタウレプトンのミューオンとガンマ線への崩壊の観測方法の検討が進展した。同時に、Bファクトリーからのデータを即座に解析する準備が整いつつある。とくに、荷電粒子運動量の精密測定、飛跡のパターン認識、崩壊位置の精密測定のためのソフトウェア群の整備が大幅に進行した。これらは、BELLE実験のメモとして共同実験者に公表されている。 研究計画の目標の第二は、次世代の崩壊位置測定器の開発研究である。 本年度は、この装置に使用する高密度集積回路の耐放射線性をガンマ線源を使用して調査した。また、次世代機の最有力候補であるピクセル検出器の組み立て方法となるバンプボンディングの開発、読み出し集積回路の試作、さらに、センサーの試作を行い、開発計画の基本的要素の技術確認が進行した。特に、バンプボンディングの技術については、不良バンプ率を0.01%にまで落すことがき、組み立て技術の最も困難な点がクリアされつつある。
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Research Products
(3 results)
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[Publications] H.Aihara et al.: "Performance of a Double Sided Silicon Microstrip Detector with a Wide Pitch N Side Readout Using a Field Plate and a Multip-Stop Structure" IEEE Trans.Nucl.Sci.44. 622-628 (1997)
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[Publications] J.Tanaka: "KEK BELLE NOTE No.193 Kfitter Usage ver 2.0" High Energy Accelerator Research Organization, 20 (1997)
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[Publications] M.Yokoyama: "KEK BELLE NOTE No.196 Measurement of Radiation Effects on VA1 Chip" High Energy Accelerator Research Organization, 4 (1997)