1998 Fiscal Year Annual Research Report
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09246102
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| Research Institution | The University of Tokyo |
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Principal Investigator |
相原 博昭 東京大学, 大学院・理学系研究科, 助教授 (60167773)
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| Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) |
金行 健治 東京工業大学, 大学院・理工学研究科, 助手 (30224629)
渡辺 靖志 東京工業大学, 大学院・理工学研究科, 教授 (40126199)
長島 順清 大阪大学, 大学院・理学研究科, 教授 (90044768)
羽澄 昌史 大阪大学, 大学院・理学研究科, 助手 (20263197)
田島 宏康 素粒子物理国際研究センター, 助手 (80222107)
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| Keywords | Bファクトリー / CP非保存 / ピクセル検出器 / 半導体検出器 / 集積回路 / 小林・益川理論 |
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| Research Abstract |
中性B中間子と反中性B中間子の間に起こる量子力学的混合を利用し、素粒子反応における粒子反粒子非対称性(CP非保存)現象の起源を解明することを主目的としたBELLE実験を遂行している。本年度は、この実験の解析に必要な主要ソフトウェアの開発を行った。特に、荷電粒子の再構成プログラムや、オンラインでバックグランドと信号を選別するための高速プログラムを開発した。これらを用いて、B中間子がチャームクォークを含む中間子に崩壊する反応のシミュレーションを行い、予想される検出効率を調べ、さらに向上させる方法を検討した。また、B中間子の崩壊位置の測定にどのような系統誤差が予想されるかを、詳細にわたって調査した。これらのプログラムは、平成11年度からの本実験において使用される。
検出器開発については、平成9年度に整備したハイブリッドピクセル型シリコン検出器の開発用測定器類と設計システムを用いて、高分解能、高放射線耐性のデバイスの設計を進めた。さらに、ピクセル検出器読み出し回路の製作とテストを行った。読み出し回路用集積回路は、約80万個のトランジスターを一つのチップ上に実装したものである。さらに、シミュレーションによって、ピクセル検出器をBELLE実験で用いた場合、B中間子崩壊位置の測定精度が約2倍向上し、その結果どのような物理測定が期待できるかを示した。また、モノリシックピクセルト呼ばれるデバイスの試作も行い、その動作テストに着手した。
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