1999 Fiscal Year Annual Research Report
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09450096
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| Research Institution | Keio University |
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Principal Investigator |
長坂 雄次 慶應義塾大学, 理工学部, 教授 (40129573)
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| Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) |
長島 昭 慶應義塾大学, 理工学部, 教授 (80051514)
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| Keywords | 溶融シリコン / 熱物性 / 計測技術 / 分子シミュレーション / 標準データ |
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| Research Abstract |
本年度は、実験、シミュレーションともに最終のまとめを行った。得られた成果は以下のようにまとめられる。
(1)表面光散乱法による表面張力と粘性率測定の高精度化の検討を行った。具体的には、波数選択に従来の回折格子ではなく、参照光の入射角を変える方法を試み、従来と同等以上の精度を得られることが明らかになった。
(2)シリコンの熱物性値の文献調査を行い、一部をデータベース化した。
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Research Products
(3 results)
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[Publications] K.Kawasaki: "Measurement of the Surface Tension of Molten Silicon by the Lise of Ripplon"High Tewperatures-High Pressures. 360. 91-96 (1998)
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[Publications] N.Honda: "Vapor-Liquid Equilibria of Silicon by the Gibbs Ensemble Simulation"Int.J.Thermopluys.. 20・3. 837-846 (1999)
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[Publications] M.Ohnishi: "Measurement of Surface Tension and Viscosity of Molten LINbo_3 by surface Laser-Light Scaltering Method"Broc.15th European Conf. on Thermophus.Prop. 15. (1999)
