1997 Fiscal Year Annual Research Report

電位捕捉電子分布関数の空間構造究明と高電子温度高密度化への電位効果・比例則の確立

Research Project

Project/Area Number	09480106
Research Institution	University of Tsukuba
Principal Investigator	長照二筑波大学, 物理学系, 教授 (80171958)
Co-Investigator(Kenkyū-buntansha)	坂本宜照日本学術振興会, 特別研究員小波蔵純子日本学術振興会, 特別研究員吉川正志筑波大学, プラズマ研究センター・物理学系, 助手 (00272138) 中嶋洋輔筑波大学, プラズマ研究センター・物理学系, 講師 (00188939) 近藤真史 (平田真史) 筑波大学, プラズマ研究センター・物理学系, 講師 (70222247)
Keywords	電位 / 電子分布関数 / 電子温度 / 高密度化 / 高電子温度化 / 比例則 / X線計測 / 半導体計測器
Research Abstract	●平成9年度は、本研究目的遂行の為に独自に開発した、新型X線及び電位計測器製作と基礎特性の研究を行った。即ち、(i)我々が提唱し実証された「半導体計測器新感度理論」から予想される新感度領域を用いた、「新開発広エネルギー域測定用半導体X線トモグラフィー計測器」並びに「新開発超エネルギーイオンスペクトル測定可能広エネルギー域半導体イオン検出器」の設計を行ない、設計通りの特性を得た。(ii)イオン閉じ込め電位計測用、新開発半導体イオン検出器の検出効率を、イオン源装置を用いて、測定・確認した。(iii)以上の新開発計測器群を用いて、実際にガンマ10の周辺部低電子温度プラズマを含む、全空間にわたるX線トモグラフィー計測を実施し、電子の分布関数の空間構造計測を開始した。(iv)この時、我々が独自に開発した「斜入射型新型イオンエネルギースペクトル計測器」のコレクター部に、この新開発イオン検出器を用い、高感度・広エネルギー帯域電位計測を行った。(v)これらにより、電位生成時に、イオンエネルギーの増大を含む、プラズマ閉じ込めの向上を明らかにした。〇以上、初年度に(I)本研究を技術面で支える、上記新開発計測器群の設計・製作、それらの特性試験も含めて、準備・確立し、(II)これらを用いて、プラズマ計測を早速実行して、本研究目的の「電位捕捉電子速度分布関数の空間構造と電位の空間構造」のデータを系統的に取りはじめた。

Research Products
(6 results)

All Other

All Publications (6 results)

[Publications] T.Cho et al.: "Development and Characterization of Semiconductor Ion Detectors for Plasma Diagnostics in the Range over 0.3 keV" Review of Scientific Instruments. 68,No.1. 324-327 (1997)
[Publications] T.Cho et al.: "Characterization of New Semiconductor Detectors for X-ray Tomography in the ASDEX Upgrade Tokamak and Its Generalized Physics Interpretations" Review of Scientific Instruments. 68,No.1. 774-777 (1997)
[Publications] T.Cho et al.: "X-ray Diagnostics for Investigating Electron Distribution Functions and Electron Potential Confinements" Fusion Engineering and Design. 34-35. 179-182 (1997)
[Publications] J.Kohagura et al.: "Alternative Method in X-ray Diagnostics for Plasma Electron-Temperature Measurements" Physical Review E. 56,No.5B. 5884-5893 (1997)
[Publications] J.Kohagura et al.: "Applications of a New Theory on the X-ray Energy Responses of Semiconductor Detector to Plasma X-ray Diagnostics" Fusion Engineering and Design. 34-35. 183-187 (1997)
[Publications] Y.Sakamoto et al.: "Plasma-Ion Diagnostics Using a Newly Designed Differential-Spectrum Ion-Energy Analyzer with Electrostatic Slanted Grids" Fusion Engineering and Design. 34-35. 543-546 (1997)

1997 Fiscal Year Annual Research Report

電位捕捉電子分布関数の空間構造究明と高電子温度高密度化への電位効果・比例則の確立

Principal Investigator

長 照二 筑波大学, 物理学系, 教授 (80171958)

Research Products

[Publications] T.Cho et al.: "Development and Characterization of Semiconductor Ion Detectors for Plasma Diagnostics in the Range over 0.3 keV" Review of Scientific Instruments. 68,No.1. 324-327 (1997)

[Publications] T.Cho et al.: "Characterization of New Semiconductor Detectors for X-ray Tomography in the ASDEX Upgrade Tokamak and Its Generalized Physics Interpretations" Review of Scientific Instruments. 68,No.1. 774-777 (1997)

[Publications] T.Cho et al.: "X-ray Diagnostics for Investigating Electron Distribution Functions and Electron Potential Confinements" Fusion Engineering and Design. 34-35. 179-182 (1997)

[Publications] J.Kohagura et al.: "Alternative Method in X-ray Diagnostics for Plasma Electron-Temperature Measurements" Physical Review E. 56,No.5B. 5884-5893 (1997)

[Publications] J.Kohagura et al.: "Applications of a New Theory on the X-ray Energy Responses of Semiconductor Detector to Plasma X-ray Diagnostics" Fusion Engineering and Design. 34-35. 183-187 (1997)

[Publications] Y.Sakamoto et al.: "Plasma-Ion Diagnostics Using a Newly Designed Differential-Spectrum Ion-Energy Analyzer with Electrostatic Slanted Grids" Fusion Engineering and Design. 34-35. 543-546 (1997)

長照二筑波大学, 物理学系, 教授 (80171958)