1997 Fiscal Year Annual Research Report

イオン種・中性粒子・電子・X線の弁別同時測定可能大出力広エネルギー域計測器の開発

Research Project

Project/Area Number	09558054
Research Institution	University of Tsukuba
Principal Investigator	長照二筑波大学, 物理学系, 教授 (80171958)
Co-Investigator(Kenkyū-buntansha)	坂本宜照日本学術振興会, 特別研究員小波蔵純子日本学術振興会, 特別研究員佐藤恵二セイコー電子工業(株)技術本部, 開発課, 研究員斎藤豊セイコー電子工業(株)技術本部, 開発課, 課長近藤真史 (平田真史) 筑波大学, プラズマ研究センター/物理学系, 講師 (70222247)
Keywords	中性粒子計測 / 電子計測 / X線計測 / 半導体計測器 / 電子温度計測 / イオン温度計測 / 広エネルギー域計測器 / プラズマ計測
Research Abstract	平成9年度は、[I]新理論による「同時入射イオン種・中性粒子・電子・X線の弁別・同時測定可能、大出力広エネルギー領域計測器」用、新開発半導体検出素子の設計・製作の為に、先ず(1)新理論を用いた新開発半導体素子の設計・特性計算を行った。特に、イオン及び荷電交換中性粒子に対する半導体素子の感度を、計算・設計した。(2)以上の新開発半導体素子の設計・特性計算に基づき、従来は計測できなかった低イオンエネルギー域にも著しく高感度を持つ新方式の新開発半導体検出素子を、最終デザインした。次に[II]作成した新開発半導体検出素子の特性試験を、(3)イオン・荷電交換中性粒子に対する、イオンビームラインを用いて行い、設計性能を実証した。(4)その他の、実用上必要である、以下に示す基礎特性の試験・検討を併せて行った。即ち、(i)プラズマ計測時の真空環境下に於ける、計測素子の安定稼働性試験。(ii)プラズマ閉じ込め用強磁場下に於いて、使用する極細配線等へ外力がかかった際の、構造上の問題を検討。(iii)プラズマ実験時、ベ-キング等の温度変化に対する素子への影響の検討。(iv)プラズマ実験時の、設置スペースに対応したコンパクト化の検討。(vi)プラズマ実験時のノイズに対するシールド対策。これらを検討し対策を施した。[III]以上の[I][II]に基づく、プラズマ計測用新開発イオン・荷電交換中性粒子・電子・X線計測用半導体検出素子を、特許技術により試作開始した。

Research Products
(6 results)

All Other

All Publications (6 results)

[Publications] T.Cho et al.: "Development and Characterization of Semiconductor Ion Detectors for Plasma Diagnostics in the Range ever 0.3keV" Review of Scientific Instruments. 68,No.1. 324-327 (1997)
[Publications] T.Cho et al.: "Characterization of New Semiconductor Detectors for X-ray Tomography in the ASDEX Upgrade Tokamak and Its Generalized physics Interpretations" Review of Scientific Instruments. 68,No.1. 774-777 (1997)
[Publications] T.Cho et al.: "X-ray Diagnostics for Investigating Electron Distribution Functions and Electron Potential Confinements" Fusion Engineering and Design. 34-35. 179-182 (1997)
[Publications] J.Kohagura et al.: "Alternative Method in X-ray Diagnostics for Plasma Electron-Temperature Measurements" Physical Review E. 56,No.5B. 5884-5893 (1997)
[Publications] J.Kohagura et al.: "Applications of a New Theory on the X-ray Energy Responses of Semiconductor Detector to Plasma X-ray Diagnostics" Fusion Engineering and Design. 34-35. 183-187 (1997)
[Publications] Y.Sakamoto et al.: "Plasma-Ion Diagnostics Using a Newly Designed Differential-Spectrum Ion-Energy Analyzer with Electrostatic Slanted Grids" Fusion Engineering and Design. 34,35. 543-546 (1997)

1997 Fiscal Year Annual Research Report

イオン種・中性粒子・電子・X線の弁別同時測定可能大出力広エネルギー域計測器の開発

Principal Investigator

長 照二 筑波大学, 物理学系, 教授 (80171958)

Research Products

[Publications] T.Cho et al.: "Development and Characterization of Semiconductor Ion Detectors for Plasma Diagnostics in the Range ever 0.3keV" Review of Scientific Instruments. 68,No.1. 324-327 (1997)

[Publications] T.Cho et al.: "Characterization of New Semiconductor Detectors for X-ray Tomography in the ASDEX Upgrade Tokamak and Its Generalized physics Interpretations" Review of Scientific Instruments. 68,No.1. 774-777 (1997)

[Publications] T.Cho et al.: "X-ray Diagnostics for Investigating Electron Distribution Functions and Electron Potential Confinements" Fusion Engineering and Design. 34-35. 179-182 (1997)

[Publications] J.Kohagura et al.: "Alternative Method in X-ray Diagnostics for Plasma Electron-Temperature Measurements" Physical Review E. 56,No.5B. 5884-5893 (1997)

[Publications] J.Kohagura et al.: "Applications of a New Theory on the X-ray Energy Responses of Semiconductor Detector to Plasma X-ray Diagnostics" Fusion Engineering and Design. 34-35. 183-187 (1997)

[Publications] Y.Sakamoto et al.: "Plasma-Ion Diagnostics Using a Newly Designed Differential-Spectrum Ion-Energy Analyzer with Electrostatic Slanted Grids" Fusion Engineering and Design. 34,35. 543-546 (1997)

長照二筑波大学, 物理学系, 教授 (80171958)