1997 Fiscal Year Annual Research Report
二重金属層・両面読み出しシリコンストリップ検出器の開発
Project/Area Number |
09640363
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Research Category |
Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
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Research Institution | Hiroshima University |
Principal Investigator |
岩田 洋世 広島大学, 理学部, 助手 (20168579)
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Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) |
大杉 節 広島大学, 理学部, 助教授 (30033898)
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Keywords | 放射線検出器 / 半導体検出器 / シリコン検出器 / バ-テックス検出器 / 飛跡検出器 |
Research Abstract |
電磁場解析ソフトウエアーシステムVOLTST-FEMAPを用いた精密な解析をもとに最適化した二重金属層・両面読み出しシリコンストリップ検出器の設計を行いこの設計に従った検出器を発注し購入した。検出器の特性測定、レーザーを用いた検出器の信号のテストまた、陽子線による放射線損傷実験を行った。検出器はよい性能を示した。電場解析、レーザーを用いた検出器のテストに関して平成9年11月の国際シンポジウム(米国、アルバカ-キ)で、放射線損傷実験については平成9年12月の国際シンポジウム(オーストラリア、メルボン)で発表し、いずれも高い評価を得た。これらの研究成果をまとめた論文2編は現在レフリーが査読中でまだ出版していない。現在、複数の検出器を精密に組み合わせてラダーと呼ばれるモジュールを作り、テストする準備が進行中である。
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