1997 Fiscal Year Annual Research Report
極短光パルス伝搬波形解析による繊維強化セラミックスの微相損傷のモニタリング
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09875161
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| Research Institution | The University of Tokyo |
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Principal Investigator |
香川 豊 東京大学, 生産技術研究所, 助教授 (50152591)
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| Keywords | 極短光パルス / 透過波形 / 近赤外光 / SiO_2系繊維強エポキシ / パルス波形 / 内部損傷 / 光散乱 / 時間遅れ |
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| Research Abstract |
近赤外極短光パルスを繊維強化ガラスおよび繊維強化セラミックスに照射し、透過したパルス光の時間遅れと振幅の変化を検出し、その波形解析をもとに複合材料中に生じているミクロな損傷を定量的に評価することの可能性を検討した。実験には波長850nm、出力10mV#半値幅50psの極短光パルスをSiO_2系繊維強化エポキシモデル材料に照射し透過したパルス光の波形解析を光オシロスコープを用いて行った。SiO_2系繊維強エポキシを透過した後には、透過パルス光強度の減少、パルス波形の変化が認められた。また、内部に損傷を持つ複合材料を用いた場合には透過パルス光の強度減少ならびに透過パルスの遅延が認められた。透過光の強度低下は静的な場合の透過光の減少とほぼ同様であった。一方、静的な場合には得られない透過スペクトルの時間的変化には内部の損傷の状況が反映されていると考えられた。
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