1998 Fiscal Year Annual Research Report
| Project/Area Number |
10480120
|
|---|
| Research Institution | Osaka University |
|---|
Principal Investigator |
山中 伸介 大阪大学, 大学院・工学研究科, 教授 (00166753)
|
|---|
| Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) |
宇埜 正美 大阪大学, 大学院・工学研究科, 助教授 (00232885)
|
|---|
| Keywords | 光電気化学 / ジルコニウム / 酸化膜 / 水素 / 電子状態 / n型半導体 / 分子軌道計算 |
|---|
| Research Abstract |
1. ジルコニウム酸化膜中の水素用溶解度の測定
ジルコニウム酸化膜中の水素溶解度を測定した。
2. ジルコニウム酸化膜の光電気化学測定
(1) 装置の購入
電気化学測定用に、ポテンショガルバノスタットの購入、および電気化学セルの設計・制作をおこなった。また、光発生用に、Xeランプ、モノクロメーターおよび光パワーメーターを購入した。
(2) 試料作成
Zr試料について、水又は水蒸気中で腐食させた2種類の酸化膜厚さを持つ試料、空気中で酸化させた試料、および空気酸化により得られた酸化膜に水素イオンを注入した試料を作成した。
(3) 測定
上記、装置及び試料を用いて本研究での実験が正常に動作することを確認した。現在は、光電気化学の測定中である。
(4) 解析
電気化学測定結果の解析と合わせて、分子軌道法による計算を行った。
|
