デスクトップ型および可搬型ナノ構造欠陥その場分析装置の開発

1998 Fiscal Year Annual Research Report

• Project/Area Number: 10555212
• Research Institution: Osaka University
• Principal Investigator: 白井 泰治 大阪大学, 大学院・工学研究科, 教授 (20154354)
• Co-Investigator(Kenkyū-buntansha): 荒木 秀樹 大阪大学, 大学院・工学研究科, 助手 (20202749)
• Keywords: 陽電子消滅 / 陽電子寿命 / 陽電子ビーム / 格子欠陥 / 非破壊検査

Research Abstract

初年度にあたる平成10年度は、デスクトップ型の材料構造欠陥分析装置の開発をすすめた。具体的には、
(1) 磁場レンズによる磁界中の陽電子飛行軌跡のコンピュータ・シミュレーション
(2) 上記シミュレーション結果に基づく陽電子ビームエネルギー選別用小型磁場レンズの設計・製作
(3) シミュレーション結果に基づく真空容器の設計・製作
(4) 線源装着部の設計・製作
(5) 温度可変型試料ステージの設計・製作
(6) 陽電子検出器(APDによる)及び消滅γ線検出器(BaF_2シンチレータによる)の設計・製作
(7) 寿命測定の為の電子計測系の構築
(8) 測定された陽電子寿命スペクトル解析の為のソフトウエアの整備
に従って進めた。今後システム全体の総合性能確認の後、広く技術の公開を行いその普及をはかる予定である。