• Search Research Projects
  • Search Researchers
  • How to Use
  1. Back to project page

1999 Fiscal Year Annual Research Report

ローラによる機械要素の電食に関する基礎的研究

Research Project

Project/Area Number 10650146
Research InstitutionTottori University

Principal Investigator

小出 隆夫  鳥取大学, 工学部, 助教授 (60127446)

Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) 宮近 幸逸  鳥取大学, 工学部, 助教授 (30157664)
小田 哲  鳥取大学, 工学部, 教授 (50032016)
Keywords電食 / 面圧強度 / ローラ / 表面あらさ / 面圧疲労寿命 / 磨耗 / ピッチング / 電圧
Research Abstract

本研究では,種々の表面あらさのS45C調質ローラに対して,まず種々の接触応力,印加電圧の下で,ローラ間電流の測定を行い,ローラ間電流に及ぼす接触応力,印加電圧,表面あらさの影響について検討を加えた.つぎに種々の電圧下において二円筒試験を行って,磨耗量,疲労寿命に及ぼす印加電圧,表面あらさの影響について検討を加えた.さらに,表面あらさの異なるローラの,各種電圧下におけるピッチングの発生状況についても比較・検討を行った.
本研究により明らかになった諸点を要約すると次のようになる.(1)運転時のローラ間電流Iは,表面あらさR_y,印加電圧V_O,にかかわらず,ヘルツ応力σ_Hの増加とともに増大する傾向があるが,σ_Hがある値以上になると各V_Oに対してほぼ一定値になる.また,Iが各V_Oに対してほぼ一定値になるσ_Hは,R_y,V_Oの増加につれて減少する.(2)ローラの磨耗量は,V_O≦10Vでは,いずれのR_yにおいても,V_Oにかかわらずほとんど変わらない.V_O≧20Vの場合には,磨耗量はV_Oの増加とともに増大し,その程度はR_yの増加につれて小さくなる.(3)ローラの疲労寿命N_cは,V_OにかかわらずR_yの増加につれて減少する.またN_cは,V_O≦10Vでは,いずれのR_y,V_Oにかかわらずほとんど変わらない.V_O≧20Vでは,N_cは,V_Oの増加とともに小さくなる傾向を示すが,R_yが大きくなるとN_cに及ぼすV_Oの影響は小さくなる.(4)ローラの損傷は,R_y,σ_H,V_Oにかかわらず,ころがり方向に広がった扇形をしており,き裂がローラ表面に発生し,内部ころがり方向に伝ぱしてピットが形成されたピッチングである.

  • Research Products

    (1 results)

All Other

All Publications (1 results)

  • [Publications] 小出 隆夫: "ローラの電食に及ぼす表面あらさの影響"日本トライボロジー会議予稿集高松. 1999-10. 445-446 (1999)

URL: 

Published: 2001-10-23   Modified: 2016-04-21  

Information User Guide FAQ News Terms of Use Attribution of KAKENHI

Powered by NII kakenhi