2000 Fiscal Year Annual Research Report
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10650331
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| Research Institution | Chiba University |
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Principal Investigator |
伊藤 秀男 千葉大学, 工学部, 教授 (90042647)
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| Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) |
北神 正人 千葉大学, 工学部, 講師 (20282832)
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| Keywords | フォールトトレランス / VLSIチップ / アーキテクチャ / 2次キャッシュ / 欠陥回避 / 故障検査 / 再構成 / 誤り回復 |
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| Research Abstract |
今年度は研究最終年度として,(1)基本アーキテクチャの詳細化,(2)新手法の考案と評価,(3)シミュレータプログラムと評価プログラムの作成,(4)研究最終年度の総括を行うことを目的とした.また,今後の研究に向けた関連技術の開発なども心がけることにした.これらの目的の中では以下の(1)から(5)の各々の設計の完成度を高めることであった.(1)チップ製造後の欠陥回避設計,(2)チップ運用後の永久故障に対する再構成可能設計,(3)故障検査容易な論理設計法,(4)コンカレント誤り検出手法,(5)誤り回復の容易なアーキテクチャ.
(1)基本アーキテクチャの詳細化については,LPU-MPU-HPUの3階層構成のLPU-MPU設計に焦点を絞り,その詳細化を進めた.メモリバンド幅を有効活用する目的からMPUから多数のLPUへの命令がパイプライン的に流される方式を提案し,方式を定量的に評価し,優れた方式であることを示した(11.研究発表参照).
(2)新手法の考案と評価については各種の方式を提案した(11.研究発表参照).(1)および(2)の研究としてはFPGAを対象として論理ブロックや配線の欠陥/故障の回避設計を提案した.これによって歩留りが向上することも定量的に評価した.(3)に関する研究としては,SRAM型のFPGAについて高速に検査を容易に行う手法を提案した.(4)については,FPGAの論理ブロックをシステム運用用のものとテスト用のものとに分けてテストを行う手法を提案した.(5)については,これに関連した技術として並列処理ネットワークの提案,ルーティングアルゴリズムの提案,キャッシュ利用チェックポイント取得方式の提案などを行った.
(3)シミュレータプログラムと評価プログラムの作成では,上記の各種提案の評価のため作成して用いた.
(4)研究最終年度の総括として,研究は上記のように一応満足したものと言える.しかし,対象とした個々の内容が設定テーマとやや離れていたものもあり,もう少しテーマに直結した業績があがると一層良かった.
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Research Products
(8 results)
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[Publications] Abderrahim Doumar and Hideo Ito: "Defect and Fault Tolerance SRAM-Based FPGAs by Shifting the Configuration Data"IEICE Transaction on Information and Systems. Vol.E83-D. 1104-1115 (2000)
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[Publications] Abderrahim Doumar,Toshiaki Ohmameuda,and Hideo Ito: "Fast Testable Design for SRAM-Based FPGAs"IEICE Transaction on Information and Systems. Vol.E83-D. 1116-1127 (2000)
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[Publications] Toshinori Takabatake,Keiichi Kaneko,and Hideo Ito: "HCC : Generalized Hierarchical Completely-Connected Networks"IEICE Transaction on Information and Systems. Vol.E83-D. 1216-1224 (2000)
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[Publications] Keiichi Kaneko and Hideo Ito: "Fault-Tolerant Routing Algorithms for Hypercube Interconnection Networks"IEICE Transaction on Information and Systems. Vol.E84-D. 121-128 (2001)
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[Publications] Abderrahim Doumar and Hideo Ito: "Testing Approach within FPGA-based Fault Tolerant Systems"IEEE Asian Test Symposium (ATS2000)(Taipei).. 411-416 (2000)
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[Publications] Abderrahim Doumar and Hideo Ito: "Design of Switching Blocks Tolerating Defects/Faults in FPGA Interconnection Resources"IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerantce in VLSI Systems (DFT2000)(Fujiyoshida, Yamanshi),. 134-142 (2000)
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[Publications] 立里英志郎,北神正人,伊藤秀男: "並列計算機のキャッシュ利用チェックポイント取得"電子情報通信学会,フォールトトレラントシステム研究会. FTS2000-77. 9-16 (2000)
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[Publications] 石倉信太郎,北神正人,伊藤秀男: "メモリバンド幅を有効活用するマルチメディアプロセッサアーキテクチャ"電子情報通信学会、機能集積情報システム研究会. FIIS2001. 1-8 (2001)
