1998 Fiscal Year Annual Research Report
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10650459
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| Research Institution | The University of Tokyo |
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Principal Investigator |
舘石 和雄 東京大学, 生産技術研究所, 助教授 (80227107)
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| Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) |
加藤 佳孝 東京大学, 生産技術研究所, 助手 (80272516)
魚本 健人 東京大学, 国際産学共同研究センター, 教授 (80114396)
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| Keywords | 低サイクル疲労 / AE / 破壊モード |
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| Research Abstract |
1. 圧接継手部の低サイクル疲労とAE特性
本年度はまず,AE計測システムの構築とそのための予備実験を兼ねて,鋼材の圧接継手に着目して低サイクル疲労試験を行った.圧接継手を取り上げたのは,欠陥が存在する場合と健全な場合とでその低サイクル疲労強度,破壊モードが極端に異なることが予想されたことによる.試験体の製作にあたっては,鋼材端面に塗料を塗付した状態で圧接を行い,意図的に欠陥を発生させた.低サイクル疲労試験を行った結果,健全なものについては結晶状の破面となり,欠陥が存在するものについては平坦な,いわゆるフラット破面の形態となることが明らかとなった.また,低サイクル疲労強度についても,欠陥がある場合には健全な場合の約半分の寿命となった.ただし,現在までのところ,欠陥のある場合とない場合とでAE特性には有為な差は現在のところ発見できていない.
2. 小型試験体によるAE特性の実験的解明
SS400鋼材から切り出した砂時計型試験体に対して,ひずみ制御の低サイクル疲労試験を行っている.試験体には2つのAEセンサを取り付け,1次元の位置標定を行うとともに,個別のAE波形を記録した.試験体に与えるひずみ振幅は,たかだか10回程度の寿命となる極低サイクル疲労の領域と,それ以上の通常の低サイクル疲労の領域とになるよう,区別して決定している.それぞれのひずみ振幅を試験体に負荷したときのAE波形はデータレコーダに記録している.現在詳細な分析を加えており,その結果,極低サイクル疲労の領域と通常の低サイクル疲労の領域とではAE波形が異なる傾向がみられることがわかった.
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