• Search Research Projects
  • Search Researchers
  • How to Use
  1. Back to project page

2012 Fiscal Year Annual Research Report

AlGaN/AlN量子井戸を用いた高効率深紫外発光素子の作製

Research Project

Project/Area Number 10F00368
Research InstitutionKyoto University

Principal Investigator

川上 養一  京都大学, 工学研究科, 教授

Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) BANAL R.G.  京都大学, 工学研究科, 外国人特別研究員
KeywordsAlGaN/AlN量子井戸 / 発光素子 / 深紫外領域 / 電子線励起 / 電力効率
Research Abstract

本研究は,窒化物半導体AlGaN系の量子井戸構造により,波長350nm以下の紫外光源を得ようとするものである.この波長域の光は,LSIプロセス,キュアリング,表面改質,殺菌・消毒など,われわれの生活を支える幅広い分野で既に必要不可欠な光である.従来,水銀ランプやフッ素・塩素系のエキシマランプなどが用いられてきたが,低い発光効率,高い環境負荷の構成元素,短い寿命などが問題とされている.したがって,深紫外領域で,高効率,長寿命,低環境負荷の光源を半導体で実現することができれば,エネルギー問題や環境問題の解決に向けて大きく貢献しうるものと考えている.このAlGaN量子井戸構造に関して,本年度は以下の成果を得た.
(1)高品質なAlN基板の入手が困難であることから,サファイア(0001)基板上へのヘテロエピタキシーを行った.サファイア基板の表面に現れる分子層ステップの位置に,貫通刃状転位列が形成されることが透過電子顕微鏡観察により明らかになった.その原因が,サファイア(0001)面の原子配列にあると予測し,偶数分子ステップを導入することにより転位列が消滅できることを予測した.それを実験的に証明するためにサファイア基板のオフ角の選定,熱処理条件の最適化を図り,その上に成長したAINにおいて実際に転位列が消滅していることを示した.
(2)サファイア基板の窒化による高品質化を試みた.窒化により3ミクロン程度の厚膜でもクラックの発生が抑制出来ることがわかり,その波及効果として厚膜化により転位密度が低減することが実験的に示された.その原因として,窒化されたサファイア上ではAlNが初期成長過程において三次元成長するため,三次元成長核が合体するときに空孔が発生し,それがクラックを引き起こす歪吸収部として機能することを見出した.
(3)Siをn型不純物として添加し,電気的および光学的特性を評価した.電気的には,Si添加に伴い抵抗が減少することが確認できた.光学的には,Si添加に伴う歪の変化が発光ピーク位置の変化として観察された.イオン半径が異なる材料の導入に伴う変化であると考えられ,電気特性とも合わせ,Siがドーピングされたことを示している.不純物添加による点欠陥(非輻射再結合中心)の抑制効果はクリアには観察されなかった.
(4)転位密度と発光特性の関連を評価するために,さまざまな転位密度のサンプルを準備し,そのフォトルミネッセンス強度を比較した.その結果,転位密度が10^8/cm^2以下であれば,発光強度に大きな影響はないことが分かった.上記,窒化サファイア基板は有力な手法であることが確認された.
(5)AlGaN量子井戸におけるポテンシャル揺らぎを評価した.揺らぎの最小において局在したキャリアが高効率発光に寄与することを実験的に示した.

  • Research Products

    (19 results)

All 2013 2012 2011 Other

All Journal Article (1 results) (of which Peer Reviewed: 1 results) Presentation (15 results) Remarks (1 results) Patent(Industrial Property Rights) (2 results) (of which Overseas: 2 results)

  • [Journal Article] Strong optical polarization in nonpolar (1-100) Al_xGa_<1-x>N/AlN quantum wells2013

    • Author(s)
      M. Funato, K. Matsuda, R. G. Banal, R. Ishii and Y. Kawakami
    • Journal Title

      Physical Review B

      Volume: 87 Pages: 041306/1-5

    • DOI

      DOI:10.1103/PhysRevB.87.041306.

    • Peer Reviewed
  • [Presentation] 高Al組成AlGaN/AlN量子井戸における励起子局在の起源2013

    • Author(s)
      大音隆男, ライアン バナル, 船戸充, 川上養一
    • Organizer
      第60回応用物理学会関係連合講演会
    • Place of Presentation
      神奈川工科大学,神奈川県
    • Year and Date
      2013-03-29
  • [Presentation] 共焦点顕微鏡による高Al組成AlGaN/AlN量子井戸のPLマッビング2013

    • Author(s)
      岩田佳也, 金田昭男, ライアン バナル, 船戸充, 川上養一
    • Organizer
      第60回応用物理学会関係連合講演会
    • Place of Presentation
      神奈川工科大学,神奈川県
    • Year and Date
      2013-03-29
  • [Presentation] Frormation Mechanism and Elimination of Lowangle Grain Boundaries ID AlN through Control of He tero interface with Sapphire (0001) Substrate2012

    • Author(s)
      Y. Hayashi, R. G. Banal, K. Matsuda, M. Funato and Y. Kawakami
    • Organizer
      Intern. Workshop on Nitride Semiconductors
    • Place of Presentation
      Sapporo, Hokkaido
    • Year and Date
      2012-10-18
  • [Presentation] Thick and Crack-free AlN Films by NH_3 Nitridation of Sapphire Substrate2012

    • Author(s)
      R. G. Banal, V. Akashi, K. Matsuda, Y. Hayashi, M. Funato and Y. Kavakami
    • Organizer
      Intern. Workshop on Nitride Semiconductors
    • Place of Presentation
      Sapporo, Hokkaido
    • Year and Date
      2012-10-16
  • [Presentation] Strong Exciton-Phonon Interaction in AlGaN/AlN Quantum Wells2012

    • Author(s)
      R. G. Banal, M. Funato and Y. Kawakami
    • Organizer
      Intern. Workshop on Nitride Semiconductors
    • Place of Presentation
      Sapporo, Hokkaido
    • Year and Date
      2012-10-16
  • [Presentation] Exciton Localization Phenomena in Al-rich AlGaN/AlN Quantum Wells2012

    • Author(s)
      T. Oto, R. G. Banal, M. Funato and Y. Kawakami
    • Organizer
      Intern. Workshop on Nitride Semiconductors
    • Place of Presentation
      Sapporo, Hokkaido
    • Year and Date
      2012-10-16
  • [Presentation] Role of Growth Spirals in AlGaN Quantum Wells2012

    • Author(s)
      R.G、Banal, Y. Akashi, K. Matsuda, Y. Hayashi. M. Funato and Y. Kawakami
    • Organizer
      第73回応用物理学会学術講演会
    • Place of Presentation
      愛媛大学・松山大学,愛媛県
    • Year and Date
      2012-09-12
  • [Presentation] Thick and Crack-free AlN Films by NH_3 Nitridation of Sapphire Substrate2012

    • Author(s)
      R. G. Banal, Y. Akashi, K. Matsuda, Y. Hayashi, M. Funato and Y. Kawakami
    • Organizer
      第73回応用物理学会学術講演会
    • Place of Presentation
      愛媛大学・松山大学,愛媛県
    • Year and Date
      2012-09-12
  • [Presentation] Exciton-LO Phonon Coupling Strength in AlGaN/AlN Quantum Wells2012

    • Author(s)
      R. G. Banal a Funato and Y. Kawakami
    • Organizer
      第73回応用物理学会学術講演会
    • Place of Presentation
      愛媛大学・松山大学,愛媛県
    • Year and Date
      2012-09-12
  • [Presentation] 高Al組成AlGaN/AlN量子井戸における発光メカニズムの励起密度依存性2012

    • Author(s)
      大音隆男, R. G. Banal, 船戸充, 川上養一
    • Organizer
      第73回応用物理学会学術講演会
    • Place of Presentation
      愛媛大学・松山大学,愛媛県
    • Year and Date
      2012-09-12
  • [Presentation] 高Al組成AlGaN/AlN量子井戸におけるPLスペクトルの励起強度依存性2012

    • Author(s)
      岩田佳也, R. G. Banal, 船戸充, 川上養一
    • Organizer
      第73回応用物理学会学術講演会
    • Place of Presentation
      愛媛大学・松山大学,愛媛県
    • Year and Date
      2012-09-12
  • [Presentation] マクロなステップ構造を有するAlN上へのAlGaN/AlN量子構造の作製2012

    • Author(s)
      林佑樹, Ryan Banal, 船戸充, 川上養一
    • Organizer
      第73回応用物理学会学術講演会
    • Place of Presentation
      愛媛大学・松山大学,愛媛県
    • Year and Date
      2012-09-12
  • [Presentation] Observation of Exciton-Phonon Interaction in AlGaN/AlN Quantum Wells2012

    • Author(s)
      R. G. Banal, M. Funato ana l. Kawakami
    • Organizer
      4th Intern. Symp. on Growth of III-Nitrides
    • Place of Presentation
      Saint-Petersburg, Russia
    • Year and Date
      2012-07-16
  • [Presentation] Emission properties of localized excitons in weakly excited Al-rich AlGaN/AlN quantum wells2012

    • Author(s)
      T. Oto, R. G. Banal, M. Funato and Y. Kawakami
    • Organizer
      31st Electronic Materials Symposium
    • Place of Presentation
      Laforet Shuzenji, Shizuoka
    • Year and Date
      2012-07-12
  • [Presentation] Structural and optical characterization of homoepitaxial AlN film2012

    • Author(s)
      R. Ishn, K. Matsuda, R. G. Banal, M. Fonato and Y. Kawakami
    • Organizer
      31st Electronic Materials Symposium
    • Place of Presentation
      Laforet Shuzenji, Shizuoka
    • Year and Date
      2012-07-12
  • [Remarks]

    • URL

      http://www.optomater.kuee.kyoto-u.ac.jp/

  • [Patent(Industrial Property Rights)] 紫外線照射装置2011

    • Inventor(s)
      川上養一, 船戸充, 大音隆男, R. G. Banal, 他
    • Industrial Property Rights Holder
      京都大学, ウシオ電機(株)
    • Industrial Property Number
      特許第5192097号
    • Filing Date
      2011-05-30
    • Acquisition Date
      2013-02-08
    • Overseas
  • [Patent(Industrial Property Rights)] ULTRAVIOLET IRRADIATION APPARATUS2011

    • Inventor(s)
      Y. Kawakaai, M. Funato, T. Oto, R. G. Banal, et al
    • Industrial Property Rights Holder
      Kyoto University, Ushio Inc
    • Industrial Property Number
      US 2013/0075697 A1
    • Filing Date
      2011-05-30
    • Acquisition Date
      2013-03-28
    • Overseas

URL: 

Published: 2014-07-16  

Information User Guide FAQ News Terms of Use Attribution of KAKENHI

Powered by NII kakenhi