走査型X線分析顕微鏡を発展させた蛍光X線・回析X線顕微鏡の開発

1999 Fiscal Year Annual Research Report

• Project/Area Number: 11559006
• Research Category: Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
• Research Institution: Nagoya University
• Principal Investigator: 高野 雅夫 名古屋大学, 大学院・理学研究科, 助教授 (90262849)
• Co-Investigator(Kenkyū-buntansha): 細川 好則 株式会社 堀場製作所, 分析システム統括部, 研究員
• Keywords: 蛍光X線 / 回析X線 / X線CCD / X線ガイドチューブ

Research Abstract

本研究の目的は、走査型X線分析顕微鏡を発展させて、蛍光X線のイメージングとともに回析X線を検出し活用する装置を開発することにある。
本年度は以下のような研究を実行した。
研究分担者の細川が、アメリカにおける当該技術の動向を探るためにX線技術関係の学会に参加し情報を収集した。その結果、アメリカでは宇宙探査用に小型の蛍光X線、回析X線分析計の開発が進められていることがわかった。われわれが開発しようとしているものは、イメージングを主目的にするもので、競合しないことも分かった。ただ、アメリカでは超小型のX線発生管の開発が進んでおり、この技術はわれわれも独自に開発する必要があることが分かった。
高野は大学院生と協力して、回析X線分析部分の概念設計を行った。コンピュータシミュレーションを行って、CCDで計測される回析パターンを予測した。さらに、CCDから得られる一次データの加工プログラムを作成し、石英、方解石など、地球科学において重要な鉱物の回析パターンをシミュレーションした。考えられる誤差要因を検討し、CCD素子上のX線到達位置の誤差がもっとも重要なことを明らかにした。シミュレーションの結果から、これらの誤差要因を加えても、鉱物の同定が可能となることが分かった。また、計測用のコンユータ、試料の位置決め用のレーザー投光器、CCD駆動回路の調整用のファンクションジェネレータを購入し、基礎実験を開始した。

Research Products

• [Publications] 高野雅夫: "全地球史解読のための最新テクノロジー開発"ぶんせき. 104-112 (1999)
• [Publications] K.Michibayashi,M.Takano et al.: "Application of Scanning X-ray Analytical Microscope to the Petrographic Characterization"Tectonophysics. 310. 55-67 (1999)