2000 Fiscal Year Annual Research Report

微細平面コイルによる金属体極表面の性状検出と初期劣化の推定に関する研究

Research Project

Project/Area Number	11650421
Research Institution	kanazawa University
Principal Investigator	山田外史金沢大学, 工学部, 教授 (80019786)
Co-Investigator(Kenkyū-buntansha)	金丸保典金沢工業大学, 教授 (00139750) 岩原正吉金沢大学, 工学部, 教授 (80020212)
Keywords	うず電流 / 平面コイル / ミアンダ形コイル / インピーダンス / 逆問題 / 導電率計測 / 疲労予測 / 金属劣化
Research Abstract	本研究は,金属構造物の欠陥の高機能検査法としてプレーナ形マイクロ渦電流探傷プローブ(ミアンダ形コイル)を検査対象の極表面の性状(透磁率と導電率)を計測するマグネトメータとして開発し,極表面性状からの金属の劣化の推定のための情報を提供することを目的とする。極表面の物理パラメータの非接触計測は,金属構造物の経年変化等を的確に把握するの重要な判断データを提供するものである。 1.マイクロECTプローブの形状の検討検査物の導電率推定の感度面から最適なマイクロ検出センサの形状を検討した。導電率の高いほど,また厚い金属対象ほどピッチの広いミアンダ形コイルが適していることが明らかになった。また,寸法の異なったコイルを製作し,実験的にも検証した。 2.モデルによる解析と実験による検証プレーナ形プローブによるインピーダンスに関する解析解から,性状(透磁率と導電率)を求める逆問題としてのグリッドシステム図を求め,モデル対象に対する推定の検証を行った。モデル実験では,30%以内で絶対値の導電率の推定ができた。 3.疲労検出に関するモデル実験疲労劣化のモデルとして,セラミックコーチングされた金属の複合材料についてセラミック接着層金属の導電率推定からの劣化把握についてモデル実験を行った。接着層の厚み変化がなければ導電率の推定ができ,その変化から劣化検出が可能である。

Research Products
(6 results)

All Other

All Publications (6 results)

[Publications] Mukhopdhyay.S.C.,Yamada,S.,Iwahara,M.: "Investigation of Near-Surface Material Properties Using Planar Meander Coils"Proceeding of the first Japanese-Australian Joint Seminar. (2000)
[Publications] Mukhopdhyay.S.C.,Yamada,S.,Iwahara,M.: "Investigation of the Quality Inspection of Electroplated Materials Using Planar Type Meander Coil"電気学会マグネティックス研究会. MAG-00-138. 31-36 (2000)
[Publications] Kacprzak,O.,Miyagoshi,T.,Yamada,S.,Iwahara,M.: "Inspection of Printed-Circuit Board by ECT Probe with Solenoid Pickup Coil"日本応用磁気学会論文誌. 24・4-2. 839-842 (2000)
[Publications] 宮腰貴久,谷口哲樹,山田外史,岩原正吉: "渦電流探傷プローブを用いた欠陥形状による検出信号特性"日本応用磁気学会論文誌. 24・4-2. 855-858 (2000)
[Publications] Taniguchi,T.,kacprzak,D.,Yamada,S.,Iwahara,M.,: "Defect detection of Printed Circuit Board by Using Eddy Current Testing Technique and Image Processing"Electromagnetic Nondestructive Evaluation (IV). 111-119 (2000)
[Publications] Kacprzak,D.,Yamada,S.,Iwahara,M.: "Analysis of the Structure of Printed Circuit Boards by Means of the Eddy Current Technique"INSIGHT. 42. 312-315 (2000)

2000 Fiscal Year Annual Research Report

微細平面コイルによる金属体極表面の性状検出と初期劣化の推定に関する研究

Principal Investigator

山田 外史 金沢大学, 工学部, 教授 (80019786)

Research Products

[Publications] Mukhopdhyay.S.C.,Yamada,S.,Iwahara,M.: "Investigation of Near-Surface Material Properties Using Planar Meander Coils"Proceeding of the first Japanese-Australian Joint Seminar. (2000)

[Publications] Mukhopdhyay.S.C.,Yamada,S.,Iwahara,M.: "Investigation of the Quality Inspection of Electroplated Materials Using Planar Type Meander Coil"電気学会マグネティックス研究会. MAG-00-138. 31-36 (2000)

[Publications] Kacprzak,O.,Miyagoshi,T.,Yamada,S.,Iwahara,M.: "Inspection of Printed-Circuit Board by ECT Probe with Solenoid Pickup Coil"日本応用磁気学会論文誌. 24・4-2. 839-842 (2000)

[Publications] 宮腰貴久,谷口哲樹,山田外史,岩原正吉: "渦電流探傷プローブを用いた欠陥形状による検出信号特性"日本応用磁気学会論文誌. 24・4-2. 855-858 (2000)

[Publications] Taniguchi,T.,kacprzak,D.,Yamada,S.,Iwahara,M.,: "Defect detection of Printed Circuit Board by Using Eddy Current Testing Technique and Image Processing"Electromagnetic Nondestructive Evaluation (IV). 111-119 (2000)

[Publications] Kacprzak,D.,Yamada,S.,Iwahara,M.: "Analysis of the Structure of Printed Circuit Boards by Means of the Eddy Current Technique"INSIGHT. 42. 312-315 (2000)

山田外史金沢大学, 工学部, 教授 (80019786)