1999 Fiscal Year Annual Research Report
フラクトエミッション計測によるセラミックスの破壊素過程の解明
Project/Area Number |
11650694
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Research Institution | Tokyo Institute of Technology |
Principal Investigator |
安田 公一 東京工業大学, 大学院・理工学研究科, 助教授 (20191306)
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Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) |
松尾 陽太郎 東京工業大学, 大学院・理工学研究科, 教授 (70016608)
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Keywords | フラクトエミッション / エネルギー分布 / 破壊 / MgO / Al_2O_3 |
Research Abstract |
本年度の実施計画に基づいて,以下の研究を実施した. (1)電子検出用のチャンネルトロン検出管を設置し,本年度,備品として購入したマルチチャンネルスケーラー計測システムと接続することにより,光子と電子の同時計測を可能とした. (2)紫外域〜可視の光電子増倍管を別途購入して,破壊時に放出される光子のエネルギー分布を予備的に検討した. (3)単結晶MgOと単結晶Al_2O_3の破壊に伴うフォトンエミッションを計測したところ,き裂進展させる結晶面によって,フォトンの放出量が異なることがわかった.
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[Publications] 嶋田大,安田公一,松尾陽太郎: "多結晶 MgO および多結晶 Al_2O_3のフラクトエミッション計測"日本セラミックス協会1999年年会講演予稿集. 319 (1999)
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[Publications] 松尾陽太郎,嶋田大,安田公一: "構造用セラミックスの破壊時におけるフォトンエミッション"日本学術振興会高温セラミック材料第124委員会. 100. 73-75 (1999)
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[Publications] 嶋田大,安田公一,松尾陽太郎: "構造用セラミックスの破壊におけるフォトンエミッションの組織依存性"第18回高温材料基礎討論会講演要旨集. 18. 48-5* (1999)