電荷を導入した立体規則性並びに高度に規則分岐した高分子の溶液構造と機能

1999 Fiscal Year Annual Research Report

• Project/Area Number: 11650931
• Research Institution: Kyoto Institute of Technology
• Principal Investigator: 浦川 宏 京都工芸繊維大学, 工芸学部, 助教授 (10183211)
• Co-Investigator(Kenkyū-buntansha): 梶原 莞爾 京都工芸繊維大学, 工芸学部, 教授 (10133133)
• Keywords: 高分子電解質 / アイオノマー / コンフォメーション / 小角X線散乱 / 溶液粘度 / 対イオン凝集 / 比誘電率 / 櫛形高分子

Research Abstract

本年度は、次の3点から研究目的を達成すべく、研究を開始し以下の結果を得た。
1.電磁波散乱による構造解析システムの構築:波長の異なる電磁波(光及びX線)を用いて幅広い大きさの範囲で構造を観察・解析するシステムを組み上げ、その有用性をポリスチレン溶液及び多糖水溶液で検討し確認した。
2.糖鎖を側鎖にもつ櫛形分岐高分子の溶液構造:ラクトースを側鎖に持つポリスチレンオリゴマーの溶液構造を小角X線散乱法により検討した。その結果、分子構造が両親媒性であることから主鎖が擬らせん構造をもつことを見出した。
3.ポリスチレンスルフォン化物の溶液構造
(1)低スルフォン化度試料(アイオノマー):溶液の極限粘度を、溶媒の比誘導率とスルフォン化度を変化させながら調べた。中程度(2〜5mol%)のスルフォン化度をもつ試料の極限粘度の比誘電率依存性に極大があることを見出した。
(2)高スルフォン化度試料(高分子電解質):ほぼ100mol%のスルフォン化度をもつ高分子電解質の溶液構造の重合度及び対イオン依存性を小角X線散乱法により検討した。対イオン凝集率は、重合度が26以上の場合にはほぼ一定であるが、それ以下になると小さくなることがわかった。後者の場合には高分子濃度が増加すると凝集率は増加したが、対イオンの種類による凝集率の違いは観察されなかった。
以上の結果を踏まえて次年度以降には、2.と3.の研究を1.のシステムでより詳細に検討すると共に電荷をもつ分岐高分子及び立体規則性高分子の溶液構造の検討に入る。

Research Products

• [Publications] I.Wataoka: "Structural Characterization of Glycopolymer by Small Angle X-ray Scattering 2"Photon Factory Activity Report. 16. 32 (1999)
• [Publications] Y.Yuguchi: "Structure of Gel Prepared by Mixing with Different Polysaccharides 2"Photon Factory Activity Report. 16. 245 (1999)