1999 Fiscal Year Annual Research Report
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11740332
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| Research Institution | Gakushuin University |
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Principal Investigator |
矢野 陽子 学習院大学, 理学部, 助手 (70255264)
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| Keywords | 気-液界面 / X線反射率測定 / 溶液 / 2-ブトキシエタノール / 表面張力 |
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| Research Abstract |
本研究は、近年固体表面に対して広く利用されているX線反射率測定法を用いて、気-液界面の構造研究を行うことを目的としている。今年度は、2-ブトキシエタノール水溶液の27℃における反射率の濃度依存性を見た。低分子溶液にX線反射率を応用した例は今までにない。
2-ブトキシエタノール水溶液は、モル分率0.07、約50℃で2相分離を起すことが知られている。常温においては1相であるが、ミクロな混合状態が異なる3つの濃度領域(27℃では、モル分率0<領域I<0.017<II>0.45<III<1に分けられる)が存在する。また、領域にIにおいて表面張力が濃度の増加にともなって急激に低下し、領域IIに入ると一定になることから、この境界は臨界ミセル濃度のようなものに対応していると考えられている。そこで、表面構造とバルクの溶液構造の相関を見るためにX線反射率測定を行ったところ、領域I内のモル分率0.005で気-液界面層の厚さが最大となった。ところが、領域II及びIIIにおいて得られた界面層の厚さがほぼ0であった。一方、表面張力からGibbsの吸着等温式により求めた表面吸着量は、領域Iにおいて濃度とともに増加してIIとの境界で最大値をとったが、領域II及びIIIではほぼ0となった。以上のことより、界面活性分子の界面吸着量と界面の厚さには相関があり、それは界面活性分子間の相互作用に起因していると思われる。
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