2000 Fiscal Year Annual Research Report
| Project/Area Number |
11878047
|
|---|
| Research Institution | Osaka University |
|---|
Principal Investigator |
白旗 慎吾 大阪大学, 大学院・基礎工学研究科, 教授 (10037294)
|
|---|
| Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) |
坂本 亘 大阪大学, 大学院・基礎工学研究科, 助手 (70304029)
安芸 重雄 大阪大学, 大学院・基礎工学研究科, 助教授 (90132696)
後藤 昌司 大阪大学, 大学院・基礎工学研究科, 教授 (00273615)
|
|---|
| Keywords | 繰り返し全数検査 / 不良品 / 発見確率 / 不良品総個数 / 最尤法 / 重み付き最小2乘法 / モーメント法 |
|---|
| Research Abstract |
1.品質検査の対象となるロットに含まれる不良品個数をM、1回の検査で不良品が検出される確率をθ、1回の検査のコストをcとする。本研究ではロットに含まれる製品の数は極めて多く、不良品の個数は相対的には少ないことを仮定している。検査の目的は合理的なコストで可能な限り不良品を除去すること、および残存不良品個数を精度良く推定することである。
2.ロットの現状を把握するためにはT回の全数検査によりM、θを推定する必要がある。推定方式として単純最小2乗法、重み付き最小2乗法、最尤法、モーメント法を比較し、精度としては最尤法が最も良く、ただし多くの場合に計算の容易な単純最小2乗法も捨てがたいことが分かった。
3.もちろんすべての不良品を発見することが望ましい。また、検査は終わらなければならない。実際的ないくつかの停止方式でのコスト、検査回数等を求めた。実際に行われている検査回数は少なすぎることを指摘した。これはすでに論文として発表している。
4.不良のタイプが複数の場合は発見確率θがそれぞれで異なるが、2,3の方式を組み合わせれば推定、計算は容易である。
5.検査に物理的な刺激が加わる場合は、検査により不良品が追加発生されることがある。その場合の物理モデルは知られていない。追加発生の確率として、ポアソン分布、負の2項分布などのモデルの当てはめを行っているが、データにうまく当てはまるモデルはまだ見つかっていない。
|
-
[Publications] Machihara,S.,Shirahata,S.and Mizuta,T.: "Estimation of ability of defect detection, number of defects b/a inspection and stopping rule of repeated inspection"PDA Special Scientific Forum on Visual Inspection. 171-185 (2000)
-
[Publications] Goto,M.and Daimon,T.: "Power transformation approaches to fitting of the compartment models"Proc.XXth meeting Int.Biometric Society. 159-159 (2000)
-
[Publications] Hamasaki,T.Isomura,T.Baba,M.and Go to,M.: "Statistical approaches to finding the does-response relationship"Drug Information J.. 34-2. 579-590 (2000)
-
[Publications] 河合統介,後藤昌司: "薬理学研究における悉無応答型試験のモデルと推測"日薬理誌. 116. 29-35 (2000)
-
[Publications] Aki,S.and Hirano,K.: "Numbers of success-runs of specified length until certain stopping time rules and generalized binomial distribuion…"Annals of the Institute of Statistical Mathematics. 52. 767-777 (2000)
-
[Publications] Han,Q.and Aki,S.: "Waiting time problems in a two-state Markov chain"Annals of the Institute of Statistical Mathematics. 52. 778-789 (2000)
