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2012 Fiscal Year Annual Research Report

生体機能発現メカニズム解明に向けた液中高分解能電荷分布計測の開発

Research Project

Project/Area Number 11J01526
Research InstitutionKyoto University

Principal Investigator

梅田 健一  京都大学, 工学研究科, 特別研究員(PD)

KeywordsDNA / 走査プローブ顕微鏡 / 周波数変調原子間力顕微鏡 / 電気二重層
Research Abstract

前年度の研究において、lambdaDNA分子を基板に吸着させたものを用いて、3次元周波数シフトマップ法による測定を行い、固液界面において分子スケールでの局所表面電荷密度計測が可能であることを示したが、測定に時間がかかるため、熱的なドリフトによって高分解能観察が困難であるという問題があった。FM-AFMでは保存力は周波数シフト、非保存的力(散逸力)はエネルギー散逸として独立で測定することが可能である。これまでの周波数シフトおよびエネルギー散逸の同時測定の実験結果から、電気二重層力(浸透圧力と静電気力)は完全な保存力であるために、周波数シフトのみにしか表れないことを明らかにしてきた。そのため、周波数シフトを探針―試料間距離制御のためのフィードバック信号として用いた上で、エネルギー散逸を同時計測することで、エネルギー散逸量から相対的な表面電荷密度を見積もることが可能であることを見出した。
物質の親疎水性の違いが固液界面における溶媒和構造や電荷密度分布とどのような関係にあるか明らかとなっておらず、親疎水性制御を用いたデバイス作製などのために、親疎水性原理の解明は重要である。界面活性剤SDSの溶液中においてHOPG基板上で周波数シフトマップ測定を行い、半円筒形状のミセルを可視化することに成功した。しかしながら、測定領域を決める周波数シフトlimit値を上げることで、探針側のミセルの破壊も観察されることが分かった。また、探針と試料のミセル間に働く相互作用力として、電気二重層力だけでなく、探針と試料表面ミセルの変形に伴う粘弾性力も働くことが分かった。更に検討を行った結果、DDABを用いることで試料表面のみにミセルを形成することが分かり、また表面要素積分法を3次元に拡張した手法の開発にも成功し、ミセル表面の表面電荷密度分布計測に成功した。

  • Research Products

    (8 results)

All 2013 2012

All Journal Article (1 results) (of which Peer Reviewed: 1 results) Presentation (6 results) Patent(Industrial Property Rights) (1 results)

  • [Journal Article] Direct actuation of cantilever in aqueous solutions by electrostatic force using high-frequency electric fields2012

    • Author(s)
      K. Umeda, K. Kobayashi, K. Matsushige, H. Yamada
    • Journal Title

      Applied Physics Letters

      Volume: 101 Pages: 123112

    • DOI

      10.1063/1.4754289

    • Peer Reviewed
  • [Presentation] 界面活性剤分子集合体上でのFM-AFMフォースマップの詳細解析2013

    • Author(s)
      梅田健一
    • Organizer
      第60回応用物理学関係連合講演会
    • Place of Presentation
      神奈川工科大学, 神奈川県
    • Year and Date
      2013-03-29
  • [Presentation] Quantitative charge density measurement of biomolecule in aqueous solutions by FM-AFM with force mapping technique2012

    • Author(s)
      梅田健一
    • Organizer
      The 20th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy
    • Place of Presentation
      かりゆしアーバンリゾートホテル, 沖縄県
    • Year and Date
      2012-12-17
  • [Presentation] Quantitative Measurements of Local Charge Density at Solid / Liquid Interfaces by FM-AFM2012

    • Author(s)
      梅田健一
    • Organizer
      25th International Microprocesses and Nanotechnology Conference
    • Place of Presentation
      神戸メリケンパークオリエンタルホテル, 兵庫県
    • Year and Date
      2012-11-01
  • [Presentation] 液中動作周波数変調AFMにおけるエネルギー散逸一定モードを用いた電荷密度計測2012

    • Author(s)
      梅田健一
    • Organizer
      第73回応用物理学関係連合講演会
    • Place of Presentation
      愛媛大学・松山大学, 愛媛県
    • Year and Date
      2012-09-12
  • [Presentation] Quantitative electric double layer force mapping and local charge density measurements of biological molecules by FM-AFM in aqueous solutions2012

    • Author(s)
      梅田健一
    • Organizer
      International Conference on Nanoscience and Technology (ICN+T 2012)
    • Place of Presentation
      パリ, フランス
    • Year and Date
      2012-07-24
  • [Presentation] Electrostatic and capacitive force analysis at solid/liquid interfaces in various liquid media2012

    • Author(s)
      梅田健一
    • Organizer
      The 15th International Conference on Non-Contact Atomic Force Microscopy
    • Place of Presentation
      チェコ共和国
    • Year and Date
      2012-07-03
  • [Patent(Industrial Property Rights)] 原子間力顕微鏡を用いた表面電荷密度測定装置2013

    • Inventor(s)
      大田昌弘、梅田健一、小林圭、山田啓文
    • Industrial Property Rights Holder
      島津製作所
    • Industrial Property Number
      PCT/JP2023/55002
    • Filing Date
      2013-02-26

URL: 

Published: 2014-07-16  

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