2002 Fiscal Year Annual Research Report
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12129204
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| Research Institution | Tokyo Institute of Technology |
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Principal Investigator |
江間 健司 東京工業大学, 大学院・理工学研究科, 助教授 (80108183)
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| Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) |
八尾 晴彦 東京工業大学, 大学院・理工学研究科, 助手 (60212271)
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| Keywords | 熱測定 / 液晶 / 相転移 / 交流法熱量計 |
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| Research Abstract |
1.測定および結果、解析等
前年度に引き続き、まずベント型液晶n(O)AMmAM(O)nについての測定を行ない、相転移に伴う熱異常の様子と各相の安定性について調べた。また結晶相内で従来報告されていない熱異常を見出した。さらに、11OHFBBB1M7および11OTBBB1M7のスメクティックC^*-C_α^*相転移における臨界、超臨界挙動の出現の可能性について調べることを目的として交流法と非断熱走査法を併用することにより測定を行なった。その結果、従来の工学的測定では確認できなかった相転移の次数に関するより直接的な情報が得られた。この他にも、リン脂質膜DLPCの液晶相を含む相転移、とくにLx-Lα転移に伴う熱異常の測定も行なった。また誘電測定については現在のところ装置の外郭が完成し、試料ホルダーの最終調整に入っている段階である。
2.成果の発表
上に挙げた熱測定の結果について、液晶学会討論会、国際液晶会議、熱測定討論会において成果発表を行なうとともに、国内外の研究者との議論、情報交換を行なった。また、昨年度の成果の一部は今年度になって出版された。
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