金属支台から溶出する金属イオンの歯質透過性及び歯根膜細胞の抗原提示能に関する検索

2001 Fiscal Year Annual Research Report

• Project/Area Number: 12671875
• Research Institution: Tokyo Medical and Dental University
• Principal Investigator: 魚島 勝美 東京医科歯科大学, 大学院・医歯学総合研究科, 助教授 (50213400)
• Keywords: 歯科金属アレルギー / 歯科用合金 / 歯質透過性 / 原因除去療法 / 金属製支台装置

Research Abstract

本研究の目的は口腔内に使用されている歯科用合金のうち、口腔内に直接露出していない金属支台等が金属アレルギーの原因になり得るか否かを検索することである。平成12年度には、実際に口腔内で機能していた、金属を有する抜去歯を用い、金属イオンがどの程度歯質内に浸透しているかをEPMAにより観察したが、これら抜去歯の治療履歴が不明であったため、その結果は必ずしも明確ではなかった。そこで、平成13年度にも引き続き同様の抜去歯を対象に検索を続けたところ、治療履歴がはっきりした抜去歯において、以下のような結果を得た。金属支台適用後10年から12年経過した抜去歯でも、根管内壁表面から歯根表面(歯質内)方向へ最大約300μmの深さまでしか金属イオンは検出されず、またこのイオンは銅イオンのみであった。そこで、健全天然抜去歯を用いて実験的に根管充填の後、ポスト孔を形成して金属(金パラジウム銀合金)ポストを装着し、これに溶液中で300mVの電圧を1週間かけて、同様に断面をEPMAで観察したが、ここでも歯質内わずか10μm程度の範囲で銅イオンが検出されたにとどまった。以上の結果より、金パラジウム銀合金をポスト付き支台として歯に適用しても、銅イオンがわずかに歯質内に滲入するにとどまる可能性が考えられる。これを、より確実なものとするため、また根尖方向への金属イオン流出の可能性を検索するため、現在以下の2種類の実験を行っており、まもなく結果が得られる予定である。一つは、健全天然抜去歯に金属ポストを装着し、溶液中37℃で6ヶ月放置するもの。この際、金属は直接溶液に触れないよう、接着性レジンでシールしている。もう一つは、同じく健全抜去歯を根管充填後、歯髄腔内に特定の金属イオン溶液を封入し、溶液中37℃で6ヶ月放置するものである。これらの試料をEPMAにより検索する予定である。