2000 Fiscal Year Annual Research Report
プラズマ中の電場測定におけるミクロ電場の分離(超高感度量子干渉・レーザー誘起蛍光偏光分光法の利用)
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12680479
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| Research Institution | Hiroshima University |
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Principal Investigator |
多幾山 憲 広島大学, 工学部, 教授 (40112180)
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| Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) |
尾田 年充 広島国際学院大学, 工学部, 教授 (60034550)
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| Keywords | プラズマ診断 / 電場計測 / レーザー誘起蛍光法 / シュタルク効果 / 電気四極子遷移 / 量子干渉 / 円偏光 |
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| Research Abstract |
磁場中プラズマでは、シュタルク効果により誘起される電気双極子と電気四極子遷移間の干渉効果を利用することによって、プラズマ粒子によるミクロスコピックな電場とマクロスコピックな電場とを明確に分離し、かつ高感度て測定できる可能性がある。この原理の検証と超高感度電場計測法の確率が本研究の目的である。本年度は実験に使用する放電プラズマ装置の製作と装置性能試験ならびにレーザー誘起蛍光観測装置の改良を行った。
1.放電プラズマ装置の主な特徴
(1)放電電極:基本的には平行平板ホローカソードである。カソードの裏側に永久磁石板を置くことによってその面に直交する磁場を印加できる。もう一方のカソード板の中心に小穴を開けた。この穴を通して磁場方向からレーザー誘起蛍光(LIF)の円偏光成分を観測できる。この放電管は陰極間隙に陽極を挿入することによって、ペニング放電も行うことができる。これにより、電子密度の高いプラズマが生成できるため、ミクロスコピック電場とLIF偏光特性の相関を詳しく調べることができる。
(2)観測ポート:LIFを磁場の方向および磁場に直交する方向から観測できる様に、レーザー打ち込み用ポートを1対、レーザー誘起蛍光観測用ポートを2対、合計3対のポートを互いに直交して設置した。
2.観測光学系の改良点
レーザー誘起蛍光の円偏光成分を測定できるように既設の観測光学系、即ち、直線偏光成分π-、σ-蛍光の同時計測装置)に1/4波長板を取付け左右円偏光成分を直交する直線偏光に変換・分離し、その偏光度を計測できるようにした。
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