2000 Fiscal Year Annual Research Report
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12750088
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| Research Institution | Tokyo University of Agriculture and Technology |
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Principal Investigator |
大谷 幸利 東京農工大学, 工学部, 助教授 (10233165)
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| Keywords | 高分子射出成形 / 光学素子 / 複屈折 / ディスク |
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| Research Abstract |
光ディスクやDVDに代表される記録媒体やレンズやプリズムはじめとする光学素子の製造法として高分子射出成形法がある.この技術は大量生産を可能とすることから製造コストの削減とにつながることから注目されている.しかしながら,従来の成形品とは異なり高い形状精度,機械的特性,光学特性といった高品位が求められている.本研究は高分子射出成形によってつくられる光学素子等の加工製品の評価を行うために,高分子材料の複屈折計測評価システムの開発を目的とする.2年間の計画の初年度としてまず,画像解析方式による2次元複屈折分布計測を確立した.ここでは従来に手法から一歩進んだ微小空間の複屈折分布を得るために顕微複屈折計測システムを試作した.ハードウエアの完成後,射出成形品の評価のためのソフトウエアの構築した.高分子成形の光学製品の微小領域における複屈折分布が可能となった.さらに,複屈折は透過波面のみの情報のみしか得られないので3次元の複屈折情報を得るために,入射光の角度を変化させて内部情報を得る方法と試料をスライスして断面情報を得る方法の2つについて検討を行った.さらに,高分子射出成形の光ディスクや磁気ディスク等の動的状態での複屈折分布の計測を行うため実時間計測について検討した.これはではまず光学系としてはレーザ,ビームエクスパンダ,複屈折プリズムと偏光ビームスプリッタからなり2台の高速カメラと組み合わせることにより同期検出する解析法の確立およびシステムの構築を目指す.以上,これらの複屈折分布の結果から高分子射出成形品の表面形状などの関連性についても検討を行った.
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[Publications] Y.Otani 他: "Microscopic measurement system for two dimensional birefringence distribution"Photonics 2000. 2. 557-559 (2000)
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[Publications] Y.Otani 他: "Disk inspection system by two dimensional birefringence distribution measurement"Proc.SPIE. 4081. 17-20 (2000)
