2001 Fiscal Year Annual Research Report
In-Situ蛍光XAFS法による反応条件下での水素化脱硫触媒の局所構造解析
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13450334
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| Research Institution | Shimane University |
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Principal Investigator |
岡本 康昭 島根大学, 総合理工学部, 教授 (80029553)
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| Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) |
坂東 恭子 産業技術総合研究所, 環境調和技術研究部門, 研究員
久保田 岳志 島根大学, 総合理工学部, 助手 (90304253)
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| Keywords | in-situキャラクタリゼーョン / XAFS / Co-Mo硫化物触媒 / 水素化脱硫反応 |
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| Research Abstract |
研究計画に従い,水素化脱硫触媒の再硫化過程,および脱硫反応中における挙動を観察するため,In-situ蛍光XAFS測定用システムを設計・製作した.システムは反応ガス流通装置,蛍光XAFS測定用セル,排ガス処理装置からなり,安全管理のために各種ガスセンサーと測定セルの温度モニターを装備している.以上の装置を高エネルギー加速器研究機構の放射光施設BL-9Aに設置し,試験運転の後に触媒試料の蛍光XAFS測定を行った.
触媒試料としてはCVD法でCoを添加したCo-Mo/アルミナ触媒,CVD法で調製したCo-Mo/ゼオライト触媒およびCo/ゼオライト触媒を用いた.再硫化過程での測定の結果,いずれの触媒においてもCo原子は酸化されているが,室温での硫化水素流通によって,大部分が再硫化されることがわかった.また,513Kでのin-situ蛍光XAFS測定から,CVD法でCoを添加したCo-Mo/アルミナ触媒では触媒を水素処理することにより,硫化後に比べてCo周囲の硫黄の配位数が若干低下することがわかった.また,チオフェンの水素化脱硫反応中においても,Co周囲の硫黄の配位数が若干低下することを見いだした.
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