2002 Fiscal Year Annual Research Report
乾燥前生籾から乾燥後玄米の被害粒混入率を判定する方法
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13660255
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| Research Institution | Niigata University |
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Principal Investigator |
中野 和弘 新潟大学, 農学部, 教授 (70188994)
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| Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) |
鈴木 正肚 新潟大学, 農学部, 教授 (70293206)
元永 佳孝 新潟大学, 農学部, 講師 (60334653)
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| Keywords | 被害粒 / カメムシ / 生籾 / 玄米 / 画像処理 / 非破壊評価 |
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| Research Abstract |
現在市販されている穀粒判別機は、乾燥後の玄米を対象としており、収穫直後の生籾のカメムシ被害粒等を乾燥機投入前に検出する装置は開発されていない。そこで本研究では、乾燥前玄米の被害粒検出装置の開発を前提として、画像処理によるカメムシ被害粒の非破壊検出法を検討した。
実験装置は、各波長別光学フィルタで撮影可能なマルチスペクトルカメラ、供試米50粒を搭載する供試皿、透過光画像用光源の面発光ライト、反射光画像用光源のコールドライトから構成されている。各画像データ収集後に、籾内被害部の有無確認のため個別に脱ぷした。脱ぷ後の生玄米にういても、同様の画像を収集した。
乾燥前生籾については、本年度検討した判別方法ではカメムシ被害粒、未熟粒および整粒の判別率は非常に低い結果であった。そこでカメムシ被害粒と未熟粒を異常粒として、これと整粒の判別を行った。透過光画像データに被害部相当箇所を特定する「しきい値」を設定することで高い判別率が得られた。乾燥前生玄米については、反射光画像の平均輝度値を用いた「しきい値」により、カメムシ被害粒、未熟粒および整粒を高精度で判別できた。
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