2001 Fiscal Year Annual Research Report
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13740157
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| Research Category |
Grant-in-Aid for Encouragement of Young Scientists (A)
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| Research Institution | Hiroshima University |
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Principal Investigator |
吉田 勝一 広島大学, 大学院・理学研究科, 助手 (50304390)
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| Keywords | シリコン・ストリップ検出器 / SSD / 放射線損傷 / 表面特性 |
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| Research Abstract |
研究成果は以下の国際会議と国内学会で発表しました。
1、2001年11月、アメリカ、サンディエゴで開かれたIEEE国際会議において、登壇者として、"Performance of Large Area Silicon Strip Sensors for GLAST"という題で発表しました。現在、同名のタイトルでfirst authorとして論文を探稿中です。
2、2001年11月、アメリカ、サンディエゴで開かれたIEEE国際会議において、登壇者として、"Heavy ion irradiation on silicon strip sensors for GLAST"という題で発表しました。現在、同名のタイトルでfirst authorとして論文を投稿中です。
3、2001年10月、天文学会において、登壇者として「ガンマ線観測衛星GLAST用シリコンストリップ検出器の性能評価、及びその品質のモニタリング」という題名で発表しました。
1と3は、ほぼ同じ内容で、共にGLAST用シリコン・ストリップ検出器の性能評価とガンマ線による放射線損傷及び、ガンマ線による放射線損傷を用いたシリコン・ストリップ検出器の製造プロセスのモニタリングの方法について述べたものです。
2はシリコン・ストリップ検出器に、減速させた鉄イオンを照射して、dE/dxの大きい粒子による放射線損傷について調べたものです。1、2、3ともに、この研究課題に基づいて行われた研究です。
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