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2013 Fiscal Year Annual Research Report

電流ゆらぎ測定によるスピン依存伝導の検出とその制御

Research Project

Project/Area Number 13J00185
Research InstitutionKyoto University

Principal Investigator

西原 禎孝  京都大学, 理学研究科, 特別研究員DC2

Keywords電流雑音 / メゾスコピック系 / スピン分極
Research Abstract

近年、量子効果を積極的に利用した素子の開発が積極的に行われており、中でも、スピン軌道相互作用(SOI)が強く働くInGaAsを母体とする二次元電子系(2DEG)の利用が注目を集めている。このInGaAs 2DEGを微細加工したメゾスコピック系は、スピンに依存する特徴的な電子輸送現象が現れることから、現在盛んに研究が行われている。一方、メゾスコピック系に現れる量子効果を検出する方法として、電流の時間的なゆらぎ、すなわち電流雑音が注目されている。中でも、伝導電子の分配過程に起因するショット雑音は、電子の挙動に関する詳細な情報を内包しており、これを用いることで、例えば、素子を伝導する電子のスピンに関する情報を得られることが予想される。本研究では、InGaAs 2DEGに作製した量子ポイントコンタクト(QPC)においてスピン分極した電流を生成し、ショット雑音によるその分極率の検出を目指した。そして、予定より早く前年度にスピン分極した電流の分極率70%を検出でき、それを英国雑誌Nature Communicationsに報告したが、その研究の中で、素子における発熱の効果が顕著に現れることが分かった。そのため、電流雑音測定を用いてその発熱の定量的な導出を行い、その結果を学会誌AIP Conference Proceedingsに報告した。
これまではSOIが強く働く系としてInGaAs2DEGを用いてきたが、スピンに依存した輸送現象をより一般的に取り扱うために、同様にSOIが強く働く二次元正孔系に作製されたQPCを用いてショット雑音の測定を行った。そしてスピンの効果が寄与していると思われる0.7異常に関する検証を行い、その研究について三度の学会報告を行った。
以上の研究を行うにあたって、より高精度の電流雑音測定を行うために低温アンプの改良を行った。そして、測定が難しいとされる20mKのもとでの電流雑音を高感度に測定できるアンプの作製に成功し、その結果を米国雑誌Applied Physics Lettersに報告した。

Current Status of Research Progress
Current Status of Research Progress

1: Research has progressed more than it was originally planned.

Reason

InGaAs半導体におけるスピン分極の生成と電流雑音を用いた分極率の検出について、予定より早く前年度に論文発表することができ、今年度は同試料における発熱の効果を電流雑音によって定量的に求め、その結果をAIP Confbrence Pmceedingsに報告できたため。また、さらなる検出精度の向上のために低温アンプの改良を行い、それについてもApplied Physics Lettersに報告することができたため。

Strategy for Future Research Activity

これまでの研究で、InGaAs2DEGに作製したQPCにおいて70%のスピン分極が生じていることを、電流雑音測定を用いて観察できた。今後は、引き続きInGaAs半導体におけるSOIの強さとスピン分極率との関係を定量的に取り扱っていくとともに、一方で、同様にSOIが強く働く二次元正孔系を用いてスピン分極の検証を行っていく予定である。また、試料素子において発熱の効果が顕著に現れることが分かってきたことで、その効果をより詳細に理解するために、不純物や欠陥の少ない非常にクリーンな系である高移動度の2DEGを用いて電流雑音測定を行っていく予定である。

  • Research Products

    (6 results)

All 2014 2013

All Journal Article (2 results) (of which Peer Reviewed: 2 results) Presentation (4 results)

  • [Journal Article] Shot noise at the quantum point contact in InGaAs heterostructure2013

    • Author(s)
      Y. Nishihara, S. Nakamura, K. Kobayashi, T. Ono, M. Kohda, J. Nitta
    • Journal Title

      AIP Conference Proceedings

      Volume: 1566 Pages: 311-312

    • DOI

      10.1063/1.4848410

    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] Cryogenic amplifier for shot noise measurement at 20 mK2013

    • Author(s)
      T. Arakawa, Y. Nishihara, M. Maeda, S. Norimoto, K. Kobayashi
    • Journal Title

      Applied Physics Letters

      Volume: 103 Pages: 172104-1-4

    • DOI

      10.1063/1.4826681

    • Peer Reviewed
  • [Presentation] 高移動度二次元電子系に作製された量子細線における電流揺らぎの測定2014

    • Author(s)
      西原禎孝, 小野輝男, 荒川智紀, 田辺賢士, 田中崇大, 則元将太, 小林研介, T. Ihn, C, Rössler, K. Ensslin
    • Organizer
      日本物理学会 第69回年次大会
    • Place of Presentation
      東海大学(神奈川)
    • Year and Date
      2014-03-27
  • [Presentation] 二次元正孔系に作製された量子細線における電流揺らぎの測定II2013

    • Author(s)
      西原禎孝, 小野輝男, 前田正博, 荒川智紀, 田中崇大, 則元将太, 小林研介, Y. Komijan, K. Ensslin, D. Reuter, A. D. Wieck
    • Organizer
      日本物理学会 2013年秋季大会
    • Place of Presentation
      徳島大学(徳島)
    • Year and Date
      2013-09-25
  • [Presentation] Shot noise measurement at a quantum point contact on a two-dimensional hole gas2013

    • Author(s)
      Y. Nishihara, K. Chida, T. Arakawa, S. Matsuo, T. Tanaka, K. Kobayashi, T. Ono, Y. Komijani, T. Ihn, K. Ensslin, D. Reuter, A. D. Wieck
    • Organizer
      IXth Rencontres du Vietnum
    • Place of Presentation
      ベトナム、クイニョン
    • Year and Date
      2013-08-06
  • [Presentation] Shot noise of a quantum point contact on a two-dimensional hole gas2013

    • Author(s)
      Y. Nishihara, K. Chida, T. Arakawa, S. Matsuo, T. Tanaka, K. Kobayashi, T. Ono, Y. Komijani, T. Ihn, K. Ensslin, D. Reuter, A. D. Wieck
    • Organizer
      EP2DS. 20
    • Place of Presentation
      ポーランド、ヴロツワフ
    • Year and Date
      2013-07-02

URL: 

Published: 2015-07-15  

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