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2015 Fiscal Year Annual Research Report

界面分析のためのスパッタ二次粒子大気圧化学イオン化質量分析法の開発

Research Project

Project/Area Number 13J02001
Research InstitutionKyoto University

Principal Investigator

藤井 麻樹子  京都大学, 工学研究科, 特別研究員(PD)

Project Period (FY) 2013-04-01 – 2016-03-31
Keywords質量分析 / 固液界面
Outline of Annual Research Achievements

液体/固体界面あるいは気体/液体界面の分析手法の確立は、圧力環境によって発現機能の異なる触媒等の評価、次世代電池における電解液/電極界面の分析、更には揮発性試料・含水状態である生きた生物試料の分析において極めて重要な課題である。これらの試料は真空中に導入すると物性や構造の変化等が起こり、測定すべき本来の状態を保持できない。このため、評価解析のための手法としては、大気圧あるいは低真空条件に適用可能な分析法が必須である。しかしながら、本来真空中で行われることを前提とした固体表面分析手法を大気圧に近い条件下に適用するに際しては、極めて短い平均自由行程に起因する、一次プローブの引き出しの困難さや、二次粒子の検出効率の低さが大きな問題であった。
本研究課題では、高いエネルギーに起因して大気圧下でも数mm程度の飛程をもつ高速重イオンビームを一次プローブとして用いることで、大気圧下での二次イオン質量分析を実現した。特に最終年度は、液体/固体界面に特有の情報を取得する方法論の確立に注力した。具体的には、安息香酸などの、水溶液中で固有の分子会合等を起こす有機分子の水溶液を試料とし、低真空中あるいは大気圧下での二次イオン質量分析を行った。時間の経過に伴い揮発していく安息香酸水溶液由来の二次イオン強度をモニタリングしていくことで、液体と固体の界面のみで検出される固有のピークを検出することに成功した。本手法の確立により、電池材料の電極/電解液界面における化学反応をリアルタイムに追跡可能となり、新規電極材料の開発などに貢献することが期待される。

Research Progress Status

27年度が最終年度であるため、記入しない。

Strategy for Future Research Activity

27年度が最終年度であるため、記入しない。

  • Research Products

    (15 results)

All 2016 2015

All Journal Article (6 results) (of which Int'l Joint Research: 3 results,  Peer Reviewed: 6 results,  Open Access: 6 results) Presentation (9 results) (of which Int'l Joint Research: 4 results)

  • [Journal Article] Secondary ion emission from leucine and isoleucine under argon gas-cluster ion bombardment2016

    • Author(s)
      H. Gnaser, M. Kusakari, M. Fujii, T. Seki, T. Aoki and J. Matsuo
    • Journal Title

      Journal of Vacuum Science and Technology B

      Volume: 34 Pages: 03H102

    • Peer Reviewed / Open Access / Int'l Joint Research
  • [Journal Article] Yields and Images of Secondary Ions from Organic Materials by Different Bi ions in TOF-SIMS2016

    • Author(s)
      R. Shishido, M. Fujii, T. Seki, T. Aoki, J. Matsuo and S. Suzuki
    • Journal Title

      Rapid Commun. Mass Spectrom

      Volume: 30 Pages: 476-482

    • Peer Reviewed / Open Access
  • [Journal Article] Development of ambient SIMS using mega-electron-volt-energy ion probe2016

    • Author(s)
      M. Kusakari, M. Fujii, T. Seki, T. Aoki and J. Matsuo
    • Journal Title

      Journal of Vacuum Science and Technology B

      Volume: 34 Pages: 03H111

    • Peer Reviewed / Open Access
  • [Journal Article] Peptide fragmentation and structural analysis by means of ToF-SIMS using huge cluster ion sources2016

    • Author(s)
      Y. Yokoyama, S. Aoyagi, M. Fujii, J. Matsuo, J. S. Fletcher, N. P. Lockyer, J. C. Vickerman, I. S. Gilmore, R. Havelund, M. P. Seah
    • Journal Title

      Anal. Chem.

      Volume: 88 Pages: 3592-3597

    • Peer Reviewed / Open Access / Int'l Joint Research
  • [Journal Article] Ambient analysis of liquid materials with Wet-SIMS2016

    • Author(s)
      T. Seki, M. Kusakari, M. Fujii, T. Aoki, J. Matsuo
    • Journal Title

      Nuclear Instruments and Methods in Physics Research B

      Volume: 371 Pages: 189-193

    • Peer Reviewed / Open Access
  • [Journal Article] Molecular cluster emission in sputtering of amino acids by argon gas-cluster ions2015

    • Author(s)
      M. Kusakari, H. Gnaser, M. Fujii, T. Seki, T. Aoki and J. Matsuo
    • Journal Title

      International Journal of Mass Spectrometry

      Volume: 383-384 Pages: 31-37

    • Peer Reviewed / Open Access / Int'l Joint Research
  • [Presentation] 二次イオン質量分析法および関連技術を用いたイメージング質量分析2016

    • Author(s)
      藤井麻樹子,宍戸理恵,佐藤貴弥,鈴木茂,松尾二郎
    • Organizer
      日本学術振興会マイクロビームアナリシス第141委員会第163回研究会
    • Place of Presentation
      東京大学生産技術研究所
    • Year and Date
      2016-02-04 – 2016-02-04
  • [Presentation] クラスターSIMS法を用いた生体試料分析の現状と課題2015

    • Author(s)
      藤井麻樹子,瀬木利夫,青木学聡,松尾二郎
    • Organizer
      第35回表面科学学術講演会
    • Place of Presentation
      つくば国際会議場
    • Year and Date
      2015-12-03 – 2015-12-03
  • [Presentation] 二次イオン質量分析法および相補技術を用いた材料分析の現状と課題2015

    • Author(s)
      藤井麻樹子,宍戸理恵,佐藤貴弥,鈴木茂,松尾二郎
    • Organizer
      日本質量分析学会関東談話会材料分析ワークショップ
    • Place of Presentation
      日本化薬健康保険組合伊東保養所
    • Year and Date
      2015-11-09 – 2015-11-09
  • [Presentation] Evaluation on organic analysis with a novel SIMS apparatus using model standard samples2015

    • Author(s)
      M. Fujii, T. Seki, T. Aoki, J. Matsuo
    • Organizer
      ALC’15 10th International Symposium on Atomic Level Characterizations for New Materials and Devices’15
    • Place of Presentation
      Matsue, Shimane, Japan
    • Year and Date
      2015-10-27 – 2015-10-27
    • Int'l Joint Research
  • [Presentation] Current Prospects of Organic Analysis with Ar-GCIB SIMS, from Synthetic Polymers and Organic Devices toward Biological Materials2015

    • Author(s)
      M. Fujii, T. Seki, T. Aoki, J. Matsuo
    • Organizer
      SIMSXX, 20th International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry
    • Place of Presentation
      Seattle, WA, USA
    • Year and Date
      2015-09-14 – 2015-09-14
    • Int'l Joint Research
  • [Presentation] 二次イオン質量分析法を用いた生体試料分析の現状と課題2015

    • Author(s)
      藤井麻樹子,瀬木利夫,青木学聡,松尾二郎
    • Organizer
      The 42nd Biological Mass Spectrometry Conference
    • Place of Presentation
      岐阜グランドホテル
    • Year and Date
      2015-07-07 – 2015-07-07
  • [Presentation] Recent Progress and Future Prospects of Cluster SIMS for Biological Applications2015

    • Author(s)
      M. Fujii, T. Seki, T. Aoki, J. Matsuo
    • Organizer
      SISS-17 Satellite Workshop
    • Place of Presentation
      Wajun-Kaikan, Chion-in, Kyoto, Japan
    • Year and Date
      2015-06-29 – 2015-06-29
    • Int'l Joint Research
  • [Presentation] Comparative Study of Cluster SIMS and Other Techniques for Highly Accurate Organic Analysis2015

    • Author(s)
      M. Fujii, R. Shishido, T. Satoh, T. Seki, T. Aoki, S. Suzuki, J. Matsuo
    • Organizer
      SISS-17, The Scientific International Symposium on SIMS and Related Techniques Based on Ion-Solid Interactions
    • Place of Presentation
      Seikei University, Tokyo, Japan
    • Year and Date
      2015-06-26 – 2015-06-26
    • Int'l Joint Research
  • [Presentation] クラスターSIMS法を用いた高空間分解能イメージング質量分析に関する研究2015

    • Author(s)
      藤井麻樹子・ 宍戸理恵・ 鈴木茂・ 松尾二郎
    • Organizer
      第63回質量分析総合討論会
    • Place of Presentation
      つくば国際会議場
    • Year and Date
      2015-06-18 – 2015-06-18

URL: 

Published: 2016-12-27  

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