陽電子による重要部材余寿命非破壊診断システムの構築

2002 Fiscal Year Annual Research Report

• Project/Area Number: 14350370
• Research Institution: Osaka University
• Principal Investigator: 白井 泰治 大阪大学, 大学院・工学研究科, 教授 (20154354)
• Co-Investigator(Kenkyū-buntansha): 水野 正隆 大阪大学, 大学院・工学研究科, 助手 (50324801) ; 荒木 秀樹 大阪大学, 大学院・工学研究科, 助教授 (20202749)
• Keywords: 陽電子消滅 / 非破壊検査 / 欠陥検出 / 疲労 / 材料評価 / 構造材料 / 金属材料 / 格子欠陥

Research Abstract

初年度はデスクトップ型の陽電子消滅材料構造欠陥分析装置の開発を行なった。
具体的には、(1)磁場レンズによる磁界中の陽電子飛行軌跡のコンピュータ・シミュレーション
(2)上記シミュレーション結果に基づく陽電子ビームエネルギー選別用小型磁場レンズの設計・製作
(3)シミュレーション結果に基づく真空容器の設計・製作
(4)線源装着部の設計・製作
(5)陽電子検出器(APDによる)及び消滅γ線検出器(BaF_2シンチレータによる)の設計・製作
(6)寿命測定のための電子計測系の構築
(7)測定された陽電子寿命スペクトル解析のためのソフトウェアの整備。特に一般のユーザーを想定した使いやすい入出力インターフェースの整備
を実施し、システム全体の総合性能確認の後,その成果を公開した。
一方、可搬型の材料劣化非破壊診断装置の試作に先だって、世界初のAPD陽電子検出器を用い、ステンレス鋼を例に、材料の疲労度合を非破壊で精度よく検出できることを実証した。
次年度は、デスクトップ装置の小型化と可搬型装置の試作を行い、それぞれについて独自の有用性を実証する。

Research Products

• [Publications] Prasert Chalermkarnnon, 穴戸逸朗, 柚賀正雄, 荒木秀樹, 白井泰治: "磁界レンズを用いたエネルギー選別β^+-γ同時計測陽電子寿命測定装置"日本金属学会誌. 66. 1004-1008 (2002)
• [Publications] Prasert Chalermkarnnon, 河口恭寛, 荒木秀樹, 白井泰治: "β^+-γ同時計測陽電子寿命計測法によるSUS316鋼の非破壊的疲労評価"日本金属学会誌. 66. 1293-1296 (2002)