2003 Fiscal Year Annual Research Report
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14540453
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| Research Institution | Himeji Institute of Technology |
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Principal Investigator |
萩谷 健治 姫路工業大学, 大学院・理学研究科, 助手 (70237907)
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| Keywords | 微小領域回折計 / X線回折計 / X線回折法 / 単色X線回折 / 結晶構造解析 / 装置開発 |
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| Research Abstract |
この研究は、試料結晶の微小部分にX線を照射し、非破壊で回折強度を測定する方法の確立を最終的な目的としている。単色X線を用いて回折実験を行う場合、最も簡単な装置(振動写真の撮影)でも一軸による回転が必要であるが、その交差精度が十分でないと言う問題点が生じている。そこで、電動精密Xステージを組み込んだ試料回転装置を既在の微小領域回折計(マックサイエンス製)に取り付け、試料の回転角度に対する中心のずれを光学顕微鏡により測定し、このデータから自動的に補正をしながら回転させることを目指した。現在までの所プログラム上の問題からうまく同期を取る事ができず補正することができていないため今なお開発中である。しかしながら現状での装置の評価のため、SPring-8での実験(課題番号:2003A0592-ND2-np)によりX線回折実験を行った。試料は変成岩中の微小な鉱物試料(Jadeite, Omphacite, Riebeckite等)であり、均質な単結晶試料が得難いものである。厚さ30マイクロメートルの薄片試料を作成し、EPMAによって化学組成の分析を行い目的の試料を事前に選定しておいた。少なくとも10マイクロメートル以上の範囲で均質と思われる部分を選び、回転中心の誤差が無視できるようにした。この部分に直径2マイクロメートルのマイクロピンホールを用いて絞った0.7オングストロームの単色X線を照射し、イメージングプレートを用いて振動写真の撮影に成功した。現在、これらの回折写真から結晶構造の解析を行っているところである。
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