表面マイクロマシニングによる微小構造の疲労特性評価に関する研究

2002 Fiscal Year Annual Research Report

• Project/Area Number: 14550087
• Research Institution: Tokyo Denki University
• Principal Investigator: 辻 裕一 東京電機大学, 理工学部, 助教授 (10163841)
• Keywords: マイクロマシニング / 疲労試験 / 微小材料 / 単結晶シリコン / 異方性エッチング / 破壊じん性

Research Abstract

微小試験片の製作技術として表面マイクロマシニングの適用を試みた.シリコン異方性エッチングによるバルクマイクロマシニングと組み合わせ,フォトリソグラフィにより微小試験片を試作した.その他,犠牲層エッチング,リフトオフ等の必要な技術を習得し,薄膜型微小試験片製作プロセスの検討を進めた.強度評価として.シリコンバクル材のき裂進展挙動に着目して研究を進めた.き裂を側面から観察するため,研磨等による鏡面仕上げ方法についても検討した.
平行して,本年度の課題である試験機の制御計測系の設計製作を行った.微小材料疲労試験機に用いる既存のアクチュエータの制御・計測系の最適化を行った.アクチュエータを用いて試験機の主要部である負荷装置,試験片装着部の設計・試作を行った.試験機では環境中の計測系も想定した試験片の微小変位,微小荷重等の測定方法の検討を行い,計測系を構築した.
単結晶Siウェハに対し異方性エッチングを利用してV溝切欠きの導入を行った微小試験片およびその強度評価に関して,次のような結果を得た.試験片のSEM写真により(111)結晶面が露出すること,切欠き底半径はサブミクロンオーダの鋭さを持っていることが確認できた.静的強度に関して,切欠きをき裂と見なすことにより破壊じん性により評価することが可能であることを示した.ただし,切欠深さが小さい場合,破壊じん性による推定は適用できず,実際の静的強度は増加する傾向がある.疲労試験を実施し,鏡面仕上げした試験片側面から切り欠き底近傍の変化を観察した.今回の試験条件では疲労現象は認められない.

Research Products

• [Publications] 郷原広道, 辻 裕一, 木村紀博: "V溝付きシリコン微小試験片の強度評価"日本機械学会関東支部ブロック合同講演会講演論文集. No.020-2. 127-128 (2002)
• [Publications] 高野光生, 辻 裕一: "マイクロディスクの光熱駆動(定在波の振動振幅増加の検討)"日本機械学会関東支部ブロック合同講演会講演論文集. No.020-2. 245-246 (2002)