2004 Fiscal Year Annual Research Report
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14550088
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| Research Institution | Musashi Institute of Technology |
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Principal Investigator |
大谷 眞一 武蔵工業大学, 工学部, 教授 (80120864)
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| Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) |
萩原 芳彦 武蔵工業大学, 工学部, 教授 (70061546)
秋田 貢一 武蔵工業大学, 工学部, 助教授 (10231820)
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| Keywords | X線応力測定 / 回折環 / 位置検出型比例計数管 / 重回帰分析 / 平面応力成分 |
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| Research Abstract |
本研究は標準的なX線応力測定法であるsin^2φ法に換わる新たな測定法として,一つのX線入射角で得られる回折環に対して複数の回折環放射方向の回折強度曲線を測定しその回折角から重回帰分析によりX線照射面積内の平面応力成分(σ_x,σ_y,τ_<xy>)を同時に算出する方法を提案し,この測定原理に基づく装置の試作および応力測定精度に及ぼす影響因子について検討する事にある.平成16年度は本研究を総括する年度である.そこでこれまでの研究成果を「残留応力に関する国際会議ICRS7」(2004年6月西安)で発表し,国外の研究者と議論をし多くの有意義な意見を得た.研究期間を通して得られた結論として,本方法は迅速で効率的な応力測定が行えることを確認し,応力測定精度についてはσ_x,τ_<xy>はsin^2φ法で得られる応力値と大きな差異はなく良好な測定精度が得られることが明かとなった.しかしσ_yについては他の2応力成分に比して測定精度が若干劣るという問題点を明らかにした.
本年度に,この問題点に対してハードおよびソフトの両面から改善することを目標に試作した位置検出型比例計数管PSPCの構造上の問題を解決したが,回折角度の決定精度向上は望めないことが判明した.また本方法の応力算出は,得られた16個の回折角の組合せを選定し重回帰分析により求めているが,得られた16個の回折角の組合せが応力決定精度に影響をおよぼすことも明かとなった,さらに応力σ_yが他の2応力成分に比して測定精度が若干劣るという問題点の最も大きな原因はシミュレーションの結果,σ_y方向のX線入射角がないのが原因であり,したがって当初の目標とは異なるが,y方向の入射角を設定して測定を行えば正確なσ_yが測定できるという結論にいたった.
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Research Products
(1 results)
