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2003 Fiscal Year Annual Research Report

テストデータの圧縮・展開を指向したテストアーキテクチャに関する研究

Research Project

Project/Area Number 15300021
Research Category

Grant-in-Aid for Scientific Research (B)

Research InstitutionHiroshima City University

Principal Investigator

市原 英行  広島市立大学, 情報科学部, 助手 (50326427)

Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) 井上 智生  広島市立大学, 情報科学部, 助教授 (40252829)
KeywordsLSIテスト / データ圧縮 / 展開器 / 圧縮器 / テストベクトル / ハフマン符号 / テストコスト / LSIテスター
Research Abstract

研究の初年度である本年は,圧縮・展開アルゴリズムと埋め込み展開器および圧縮器の関係をモデル化し,そのモデルを用いた解析を行うことが目的であった.
1.埋込み展開器に関しては,統計型可変長符号(ハフマン符号など)を用いた場合のテスト圧縮アルゴリズムにおける展開器モデルを提案し,その解析を行った.解析では,展開器の入手力速度比,展開器のバッファサイズ,テストデータの圧縮率の関係を明らかにした.その解析結果は,電気学会電子・情報・システム部門大会(2003年8月)において報告を行った.また,この解析を基に,テスト展開器のオーバーヘッド削減のために,テストベクトルを並べ替える手法も提案した.並べ替えアルゴリズムはテストデータ量に比例した計算時間で実行可能であるにもかかわらず,並べ替えを行わない場合と比べて90%以上もバッファサイズを削減できる例があることがわかった.この結果は,電子情報通信学会のディペンダブルコンピューティング研究会(2004年2月)で報告を行った.
2.もう1つの目標であったテスト出力応答の圧縮は,入力側と同様にハフマン符号をベースとした新しい出力応答圧縮用符号を提案し,この符号を用いた出力応答圧縮の計算機実験を行った.圧縮率は約50%であり,今後の圧縮率の向上に期待できる.また圧縮器の構成についてはまだモデル化できていないため,これからの研究課題となっている.この結果は国際会議Asian Test Symposium (2003年11月)にて発表を行った.
以上の2点から,本年度の研究計画はほぼ予定通り達成できたと考えている.
加えて,これらの研究を行う際に行った他の研究の動向調査(サーベイ)を基に,他大学の研究者とともにサーベイ論文としてまとめ,電子情報通信学会論文誌DIに採録された.

  • Research Products

    (4 results)

All Other

All Publications (4 results)

  • [Publications] 樋上喜信: "論理回路に対するテストコスト削減法-テストデータ量および実行時間の削減-"電子情報通信学会論文誌(DI). J87-D-I・3. 291-307 (2004)

  • [Publications] 越智正邦: "テスト展開器のオーバーヘッド削減のためのテストベクトルの並べ替えについて"電子情報通信学会技術研究報告. 103・668. 41-46 (2004)

  • [Publications] H.Ichihara: "Test Response Compression Based on Huffman Coding"Proc.Asian Test symposium. 446-449 (2003)

  • [Publications] 新谷道広: "ハフマン符号に基づくテストデータ展開機構について"電気学会電子・情報・システム部門大会講演論文集. 602-608 (2003)

URL: 

Published: 2005-04-18   Modified: 2016-04-21  

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