2004 Fiscal Year Annual Research Report
放射線および酸化ストレスに対する細胞応答の分子機構と誘導性遺伝子の機能の解析
| Project/Area Number |
15310037
|
|---|
| Research Institution | Kyoto University |
|---|
Principal Investigator |
米井 脩治 京都大学, 大学院・理学研究科, 教授 (60093340)
|
|---|
| Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) |
張 秋梅 京都大学, 大学院・理学研究科, 助教授 (00260604)
|
|---|
| Keywords | 放射線感受性 / クラスター損傷 / DNAグリコシラーゼ / 過剰発現 / 活性酸素 / APエンドヌクレアーゼ / 8-オキソグアニン / 塩基除去修復 |
|---|
| Research Abstract |
(1)電離表斜線はクラスター損傷と呼ばれる特有の損傷を作るというモデルが提唱されている。クラスター損傷とは放射線の1つのエネルギー付与によってDNAのらせん1〜2巻きのうちに2つあるいはそれ以上の酸化的損傷が生じるものを言う。本研究では、ヒト培養細胞のHeLaS3に、核に局在するhOGG1 type1aと、ミトコンドリアに局在するhOGG1 type2aとをそれぞれ過剰発現させた細胞株を作製しそれらのガンマ線感受性を調べた。結果はどちらのhOGG1の過剰発現細胞株も通常のHela細胞よりもガンマ線に対して高い感受性を示した。γ-H2AX fociを指標とした二重鎖切断定量実験によって、過剰発現されたhOGG1 type1aの作用によりクラスター損傷から二重鎖切断が誘導されたことを示唆する結果が得られた。損傷塩基が向かい側に存在すると過剰発現しているhOGG1によってDNAの両鎖で除去修復が起こる可能性があり、それが二重鎖切断につながることが考えられる。ミトコンドリアに局在するhOGG1 type2aを過剰発現させた時に、ガンマ線の生存率が下がる原因は特定できなかったが、ミトコンドリアDNAの損傷を適切に修復できないためではないかと予想される。
(2)活性酸素は、酸素の1電子還元の過程で生じる分子種であり、スーパーオキシド、過酸化水素、ヒドロキシルラジカルに変わっていく。これらの活性酸素は、電離放射線による水の分解によっても生じるが、通常の好気的な代謝過程でも常に生じている。本研究では、ホヤの8-oxoG-DNAグリコシラーゼ(Ci-Ogg1)を初めて同定し、精製したOgg1の基質特異性などを詳細に解析した。
(3)線虫のウラシル-DNAグリコシラーゼを固定、精製した。RNAi法によるこの遺伝子の発現抑制株の性質を解析した。
|
Research Products
(5 results)
