2003 Fiscal Year Annual Research Report
磁界印加オーロラPLDに於ける有機ターゲット粒子高度イオン化現象の機構解明
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15360011
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| Research Institution | Osaka University |
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Principal Investigator |
小林 猛 大阪大学, 大学院・基礎工学研究科, 教授 (80153617)
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| Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) |
牧 哲朗 大阪大学, 大学院・基礎工学研究科, 助手 (80273605)
作田 健 大阪大学, 大学院・基礎工学研究科, 助教授 (70221273)
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| Keywords | レーザーアブレーション / PLD / 有機EL / Alq3 / 医用電子 / 安全安心 |
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| Research Abstract |
現有のAr-FエキシマレーザーPLD装置を用いて発散磁界印加下における有機系ターゲット・アブレーション粒子のダイナミックスを詳細測定し、オーロラPLDに特徴的な高度イオン化現象の機構解明に努めた(小林、作田、牧)。本研究では、有機系材料として、ELでお馴染みのAlq3発光物質を導入したことが特徴である。超高速フレーミング・ストリークカメラ(現有設備)、波長分割超高速ストリークカメラ(現有設備)等によりAlq3有機系ターゲット・アブレーションの基礎過程を詳細測定した。磁界印加効果(オーロラPLD効果)のメカニズムとして考えられるのは(1)磁界ミラー効果、(2)粒子ラーマー運動、(3)アブレーション粒子のリュードベルグ準安定状態(準安定状態にあるところへ磁界によるフィールドエンハンスド・アイオニゼーション機構が作用)、などの候補の内でも(1)磁界ミラー効果が最も現実味のあることが分かってきた。今回の実験的研究において威力を発揮したのはSQUIDによるダイナミクス測定であった。
オーロラ効果による高度イオン化の進行したPLDによりAlq3有機機能薄膜(有機EL)の成長を並行しておこない、特性評価をおこなった(小林、牧)。比較のためにZnO系の酸化物半導体薄膜のオーロラPLD成長をおこなった。意外にも、Alq3物質分子がレーザーフォトン照射により比較的容易に分解・解離していることが判明した。Alq3の性質から解離はEL発光特性に悪影響となり、本年度の研究結果の範囲では十分に目的に叶った成果には到達できなかった。
来年度は残された課題の解決と、良質なAlq3EL薄膜の作成を実現することとする。
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[Publications] 小林 猛: "Magnetic and optical properties of novel magnetic semiconductor Zn_<1-x>Cr_x O and its application to all oxide p-i-n diode"Appl.Surf.Sci. 216. 603-606 (2003)
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[Publications] 小林 猛: "Improved surface morphology of sulfur-doped homoepitaxial diamond films by plasma CVD method with SF6 Grading Doping profile"Appl.Surf.Sci. 216. 596-602 (2003)
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[Publications] 小林 猛: "Effect of Ga Re-evaporation on AlxGal-xN Thin Film Growth by Dual-beam Laser Ablation Method in N2 Ambient"Jpn.J.Appl.Phys. 42. 2856-2857 (2003)
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[Publications] 小林 猛: "Improved Crystallinity of ZnO Thin Films Grown by the"Aurora PLD Method"Thin Solid Films. 445. 259-262 (2003)
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[Publications] 作田 健: "High critical temperature superconducting quantum intereference device magnetometer with feedforward active noise control system for magneto"Physica-C physica C, Vol.396. C392-396. 1411-1415 (2003)
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[Publications] 小林 猛: "Vortex Electronics and SQUID"Springer-Verlag, Topics in Applied Physics No.91. 310 (2003)
