2003 Fiscal Year Annual Research Report
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15560063
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| Research Institution | Tokyo Institute of Technology |
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Principal Investigator |
井上 裕嗣 東京工業大学, 大学院・理工学研究科, 助教授 (90193606)
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| Keywords | 超音波 / 非破壊検査 / 探触子 / Lamb波 / Rayleigh波 / コーティング材料 |
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| Research Abstract |
本研究では,非破壊検査法の一つである超音波探傷法の精度・効率の向上を図るために,従来にない構造・特性を有する接触型線集束探触子を開発し,その高性能化を図るとともに,この探触子を利用した新しい超音波探傷法を確立することを目的とした.開発した探触子は,従来の探触子に比べて,薄板のLamb波,コーティング層の一般化Lamb波,バルク材の円筒面波,およびバルク材のRayleigh波などが容易に励起・検出できるという特徴を有する.本年度の研究の結果,次に示す成果を得た.
1.接触型線集束探触子を試作し,指向性や周波数特性などの基本的性能を実験と解析の両面から評価した.
2.有限要素シミュレーションにより,接触型線集束探触子による超音波の励起・検出のメカニズムを明らかにした.
3.1と2の結果を取りまとめて公表した.
4.以上の結果を踏まえて,より性能の高いと思われる探触子を新たに製作し,相互に比較を行った.
5.接触型線集束探触子の新しい適用例として,TOFD法によるき裂検出に関する基礎的実験を行い,き裂寸法が十分に高い精度で検出できることを確認するとともに,さらに高精度化を図るための探触子改良の指針を得た.
6.前項までの縦波形探触子に関する知見に基づき,同様の原理に基づく横波形の探触子を新たに開発し,圧電コーティング層のLove波の励起・検出に適用できることを示すとともに,圧電コーティング層と基材の接合状態の非破壊検査の可能性を確認した.
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