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2016 Fiscal Year Annual Research Report

三次元ヘテロ集積化技術を用いた積層型立体画像センサーLSIの開発

Research Project

Project/Area Number 15H02246
Research InstitutionTohoku University

Principal Investigator

小柳 光正  東北大学, 未来科学技術共同研究センター, 名誉教授 (60205531)

Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) 木野 久志  東北大学, 学際科学フロンティア研究所, 助教 (10633406)
田中 徹  東北大学, 医工学研究科, 教授 (40417382)
ベ ジチョル  東北大学, 未来科学技術共同研究センター, 助教 (40509874)
清山 浩司  長崎総合科学大学, 工学部, 准教授 (60412722)
橋本 宏之  東北大学, 未来科学技術共同研究センター, 産学官連携研究員 (80589432)
Project Period (FY) 2015-04-01 – 2018-03-31
Keywords電子デバイス・機器 / 先端機能デバイス / 半導体物性 / システムオンチップ / スマートセンサ情報システム
Outline of Annual Research Achievements

今年度は可視光イメージセンサと、近赤外センサ層、赤外センサ層を積層した3層積層型イメージセンサを試作することを想定して、実際のイメージセンサの構造に近い構造を有する3層積層型イメージセンサの光応答特性をシミュレーションにより評価した。その結果、実際のイメージセンサの構造に近い構造を有する3層積層型イメージセンサでは、厚い多層配線層間絶縁膜のために、信号光が隣接する画素へも入射してクロストークとなり、鮮明な像が得られなくなる可能性のあることがわかった。そこで、画素中央部の多層配線層間絶縁膜を除去し、そこに高屈折率の絶縁膜を埋め込んで、光を垂直方向に導波するための光導波路や光パイプを形成することを検討した。その結果、可視光、近赤外光、赤外光すべてに対して、良好に導波される構造と条件が存在することが判明し、このような最適構造、最適条件を採用することによってクロストークを大幅に低減できることが明らかになった。これらの評価結果を基に、イメージセンサの各画素の中央部に光パイプを形成することを試みた。まず、イメージセンサの各画素の中央部に光パイプを形成するための深溝を形成する技術について検討した。その結果、高エネルギー反応性イオンエッチを用いて、厚い多層配線層間絶縁膜の中に、寸法1~5µm、深さ3~5µmの良好な形状を有する深溝を形成することが可能となった。次に、深溝に埋め込むコア材料として、薄いSi層の積層との整合性を考えて、高屈折率シリコン酸化膜を重点的に検討し、1.54という大きな屈折率を有するTEOSプラズマシリコン酸化膜の形成に成功した。多層配線層間絶縁膜に形成した深溝に大きな屈折率を有するTEOSプラズマシリコン酸化膜を埋め込み、CMPにより平坦化して光パイプを形成した。このように形成した光パイプで光が導波されることも確認した。

Current Status of Research Progress
Current Status of Research Progress

2: Research has progressed on the whole more than it was originally planned.

Reason

当初の計画に従って、積層型画素を有するイメージセンサの実現可能性をシミュレーションにより明らかにするとともに、クロストークを削減するための光パイプを形成したウェハによるウェハ接合やウェハの薄化、微細TSVや微細マイクロバンプの形成など、積層型イメージセンサ試作へ向けて必要な技術が着実に蓄積できていることから、研究はおおむね順調に進展していると判断した。

Strategy for Future Research Activity

今後はこれまでの検討結果を基に、可視光層/近赤外光層/赤外光層からなる3層積層型イメージセンサ素子を実際に設計・試作して、基本特性を評価することを目指す。そのためには、多層積層型イメージセンサ素子を作製するための極薄ウェハのハイブリッド直接接合技術と微細TSV、微細マイクロバンプを用いた三次元ヘテロ集積化要素技術の確立が鍵となるので、今後これらの技術の確立に注力する。

  • Research Products

    (9 results)

All 2016

All Journal Article (4 results) (of which Int'l Joint Research: 4 results,  Peer Reviewed: 4 results,  Open Access: 4 results) Presentation (5 results) (of which Int'l Joint Research: 5 results,  Invited: 1 results)

  • [Journal Article] Impact of Chip-Edge Structures on Alignment Accuracies of Self-Assembled Dies for Microelectronic System Integration2016

    • Author(s)
      Yuka Ito, Takafumi Fukushima, Kang-Wook Lee, Koji Choki, Tetsu Tanaka, and Mitsumasa Koyanagi,
    • Journal Title

      IEEE Journal of Microelectromechanical Systems

      Volume: 25 Pages: 91-100

    • DOI

      10.1109/JMEMS.2015.2480787

    • Peer Reviewed / Open Access / Int'l Joint Research
  • [Journal Article] Novel hybrid bonding technology using ultra-high density Cu nano-pillar (CNP) for exascale 2.5D/3D integration2016

    • Author(s)
      K-W. Lee, J-C Bea, T. Fukushima, S. Ramalingam, X. Wu, T. Tanaka, M. Koyanagi
    • Journal Title

      IEEE Electron Device Letters

      Volume: 37 Pages: 81-83

    • DOI

      10.1109/LED.2015.2502584

    • Peer Reviewed / Open Access / Int'l Joint Research
  • [Journal Article] Self-Assembly Based Multichip-to-Wafer Bonding Technologies for 3D/Hetero Integration2016

    • Author(s)
      Fukushima, K.W. Lee, T. Tanaka, and M. Koyanagi
    • Journal Title

      ECS Transactions

      Volume: 75 Pages: 285-290

    • DOI

      10.1149/07509.0285ecst

    • Peer Reviewed / Open Access / Int'l Joint Research
  • [Journal Article] Oxide-Oxide Thermocompression Direct Bonding Technologies with Capillary Self-Assembly for Multichip-to-Wafer Heterogeneous 3D System Integration2016

    • Author(s)
      Takafumi Fukushima, Hideto Hashiguchi, Hiroshi Yonekura, Hisashi Kino, Mariappan Murugesan, Ji-Chel Bea, Kang-Wook Lee , Tetsu Tanaka and Mitsumasa Koyanagi
    • Journal Title

      Micromachines

      Volume: 7 Pages: 184-1-184-18

    • DOI

      10.3390/mi7100184

    • Peer Reviewed / Open Access / Int'l Joint Research
  • [Presentation] Improving the Integrity of Ti Barrier Layer in Cu-TSVs Through Self-Formed TiSix for Via-Last TSV Technology2016

    • Author(s)
      Murugesan Mariappan, JiChel Bea, Takafumi Fukushima, Makoto Motoyoshi, Tetsu Tanaka and Mitsumasa Koyanagi
    • Organizer
      IEEE International 3D System Integration Conference (3DIC)
    • Place of Presentation
      San Francisco, USA
    • Year and Date
      2016-11-09 – 2016-11-11
    • Int'l Joint Research
  • [Presentation] Nano-scale Cu direct bonding using ultra-high density Cu nano-pillar (CNP) for high yield exascale 2.5/3D integration applications2016

    • Author(s)
      Kangwook. Lee, Ai Nakamura, Jicheol Bea, Takafumi Fukushima, Suresh Ramalingam, Xin Wu, Tanaka Tanaka, and Mitsumasa Koyanagi
    • Organizer
      IEEE International 3D System Integration Conference (3DIC)
    • Place of Presentation
      San Francisco, USA
    • Year and Date
      2016-11-09 – 2016-11-11
    • Int'l Joint Research
  • [Presentation] New Multichip-to-Wafer 3D Integration Technology Using Self-Assembly and Cu Nano-Pillar Hybrid Bonding2016

    • Author(s)
      M. Koyanagi, K.W. Lee, T. Fukushima, and T. Tanaka
    • Organizer
      IEEE International Conference on Solid-State and Integrated Circuit Technology (ICSICT2016)
    • Place of Presentation
      Hangzhou, China
    • Year and Date
      2016-10-25 – 2016-10-28
    • Int'l Joint Research / Invited
  • [Presentation] Transfer and Non-Transfer 3D Stacking Technologies Based on Multichip-to-Wafer Self-Assembly and Direct Bonding2016

    • Author(s)
      T. Fukushima, H. Hashiguchi, H. Kino, M. Murugesan, J. Bea, H. Hashimoto, K. Lee, T. Tanaka and M. Koyanagi
    • Organizer
      IEEE 66th Electronic Components and Technology Conference (ECTC)
    • Place of Presentation
      Las Vegas, USA
    • Year and Date
      2016-05-31 – 2016-06-03
    • Int'l Joint Research
  • [Presentation] Novel W2W/C2W hybrid bonding technology with high stacking yield using ultra- fine size, ultra-high density Cu nano-pillar (CNP) for exascale 2.5D/3D integration2016

    • Author(s)
      K.W. Lee, C.Nagai, J.C. Bea, T. Fukushima, R. Suresh, and X. Wu, T. Tanaka, and M. Koyanagi
    • Organizer
      IEEE 66th Electronic Components and Technology Conference (ECTC)
    • Place of Presentation
      Las Vegas, USA
    • Year and Date
      2016-05-31 – 2016-06-03
    • Int'l Joint Research

URL: 

Published: 2018-01-16  

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