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2016 Fiscal Year Annual Research Report

ダイナミック・ナノリフロー法によるLSI超微細配線の形成と機構解明

Research Project

Project/Area Number 15H02307
Research InstitutionTohoku University

Principal Investigator

小池 淳一  東北大学, 未来科学技術共同研究センター, 教授 (10261588)

Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) 安藤 大輔  東北大学, 工学研究科, 助教 (50615820)
須藤 祐司  東北大学, 工学研究科, 准教授 (80375196)
Project Period (FY) 2015-04-01 – 2018-03-31
Keywords半導体超微細化 / 構造・機能材料 / 多層配線
Outline of Annual Research Achievements

昨年度の研究において、表面曲率勾配と熱応力勾配がリフローの駆動力になることを示した。28年度は、種々の初期組織を有する15nm幅の微細配線を作製し、リフロー熱処理を実施することによる埋め込み組織形態を観察した。同時に、リフロー前後の組織を透過電子顕微鏡を用いて観察し、初期組織における配線表面の曲率勾配を求め、リフロー後の組織との関連性を調査した。さらに有限要素法を用いて、加熱時と冷却時の熱応力勾配を求めた。得られた結果をもとに、曲率勾配と熱応力勾配による駆動力の大きさと原子フラックスを求め、リフロー埋め込みを決める因子を明らかにした。
曲率勾配は、初期組織のみに依存し、リフロー埋め込みを促す初期組織を特定することができた。すなわち、いわゆるオーバーバードンが無い場合が好ましいことを示した。一方で、熱応力勾配は初期組織に依存するのに加えて、加熱と冷却の過程にも依存することを示した。加熱時においては、オーバーバードンの有無にかかわらず、熱応力勾配が埋め込みを促進するように作用した。冷却時においては、オーバーバードンがある場合は、埋め込まれた配線を押し出すように作用し、オーバーバードンが無い場合は埋め込みを促すように作用することが明らかになった。
これらの結果から、オーバーバードンが無い初期組織を作製することで、高温への加熱時とそれに続く冷却時において埋め込みが促されることが明らかになった。さらに、初期組織の膜厚や曲率を微妙に変化したときの影響についても明らかとなり、経験的に知られていた実験事実に対する明確な説明を与えることができた。

Current Status of Research Progress
Current Status of Research Progress

2: Research has progressed on the whole more than it was originally planned.

Reason

研究計画を予定どおり実施し、実験と理論的解析を通じて影響因子の定量評価を行うことができ、当初目標を達成した。また、次年度(最終年度)に向けた指針を示すことができた。

Strategy for Future Research Activity

リフロー駆動力の定量的評価が可能になり、メカニズムの定式化の方針が立った。これをもとに、一般的な駆動力下における組織形成挙動のシミュレーションを行い、リフロー条件に応じた埋め込み組織形態の予測を可能にすることを試みる。
用いるシミュレーション方法としては、レベルセット法を基本とするプログラムコードを作製し、実験との対比を行うことによってモデルおよびコードの妥当性を検証し、修正を重ねて完成に導く。

  • Research Products

    (16 results)

All 2017 2016 Other

All Int'l Joint Research (3 results) Journal Article (5 results) (of which Int'l Joint Research: 3 results,  Peer Reviewed: 5 results,  Acknowledgement Compliant: 2 results) Presentation (8 results) (of which Int'l Joint Research: 6 results,  Invited: 3 results)

  • [Int'l Joint Research] Lam Research Corporation(米国)

    • Country Name
      U.S.A.
    • Counterpart Institution
      Lam Research Corporation
  • [Int'l Joint Research] TSMC(台湾)

    • Country Name
      その他の国・地域
    • Counterpart Institution
      TSMC
  • [Int'l Joint Research] Korea Institute of Industrial Technolofy/Hanyang University(韓国)

    • Country Name
      KOREA (REP. OF KOREA)
    • Counterpart Institution
      Korea Institute of Industrial Technolofy/Hanyang University
  • [Journal Article] Effect of plasma surface finish on wettability and mechanical properties of SAC305 solder joints2016

    • Author(s)
      K.-H. Kim, J. Koike, J.-W. Yoon, and S. Yoo
    • Journal Title

      Journal of electronic materials

      Volume: 45 Pages: 6184-6191

    • DOI

      10.1007/s11664-016-4908-4

    • Peer Reviewed / Int'l Joint Research
  • [Journal Article] Amorphous Co-Ti alloy as a single layer barrier for Co local interconnect structure2016

    • Author(s)
      M. Hosseini, J. Koike, Y. Sutou, L. Zhao, S. Lai and R. Arghavani
    • Journal Title

      Proceedings of IITC/AMC 2016

      Volume: 1 Pages: 162-164

    • DOI

      10.1109/IITC-AMC.2016.7507718

    • Peer Reviewed / Int'l Joint Research / Acknowledgement Compliant
  • [Journal Article] Contact resistivity for amorphous and crystalline GeCu2Te3 to W electrode for phase change random access memory2016

    • Author(s)
      S. Shindo, Y. Sutou, J. Koike, Y. Saito, and Y.-H. Song
    • Journal Title

      Materials Science in Semicndcutor Processing

      Volume: 47 Pages: 1-6

    • DOI

      10.1016/mssp.2016.02.006

    • Peer Reviewed / Int'l Joint Research
  • [Journal Article] XAFS analysis on amorphous and crystalline new phase change material GeCu2Te32016

    • Author(s)
      K. Kamimura, S. Hosokawa, N. Happo, H. Ikemoto, Y. Sutou, S. Shindo, Y. Saito, and J. Koike
    • Journal Title

      Journal of optoelectronics and advanced materials

      Volume: 18 Pages: 248-253

    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] The investigation of an amorphous Co-Hf alloy as an ultrathin single layer barrier in LSI devices2016

    • Author(s)
      H. Koide, D. Ando, Y. Sutou, and J. Koike
    • Journal Title

      Proceedings of ADMETA 2016

      Volume: 1 Pages: 35-36

    • Peer Reviewed / Acknowledgement Compliant
  • [Presentation] Metallurgical and electrical characterization of ultrathin CoTix liner/barrier for Cu interconnects2017

    • Author(s)
      M. Hosseini
    • Organizer
      International Interconnect Technology Conference
    • Place of Presentation
      台湾新竹市
    • Year and Date
      2017-05-17
    • Int'l Joint Research
  • [Presentation] Feasibility study of Cu paste printing technique to fill deep via holes for low cost 3D TSV applications2017

    • Author(s)
      H. T. Hai
    • Organizer
      International Interconnect Technology Conference
    • Place of Presentation
      台湾新竹市
    • Year and Date
      2017-05-17
    • Int'l Joint Research
  • [Presentation] LSI多層配線の単層拡散バリア層としての非晶質コバルト合金の特性2017

    • Author(s)
      小池淳一
    • Organizer
      応用物理学会2017年春季講演大会
    • Place of Presentation
      パシフィコ横浜(神奈川県横浜市)
    • Year and Date
      2017-03-15
    • Invited
  • [Presentation] 先端配線におけるライナー・バリア機能を有する非晶質コバルト合金の特性2017

    • Author(s)
      Maryamsadat Hosseini
    • Organizer
      シリコン材料・デバイス研究会
    • Place of Presentation
      東京大学(東京都文京区)
    • Year and Date
      2017-02-06
    • Invited
  • [Presentation] A new amorphous alloy having liner/barrier function for sub-10 nm technology node of LSI interconnection2016

    • Author(s)
      小池淳一
    • Organizer
      ENGE2016
    • Place of Presentation
      韓国済州市
    • Year and Date
      2016-11-09
    • Int'l Joint Research / Invited
  • [Presentation] Thermal stability and diffusion barrier property of a Co-Ti layer for advanced copper metallization2016

    • Author(s)
      Maryamsadat Hosseini
    • Organizer
      Advanced metallization conference Asian session
    • Place of Presentation
      東京大学(東京都文京区)
    • Year and Date
      2016-10-20
    • Int'l Joint Research
  • [Presentation] The investigation of an amorphous Co-Hf alloy as an ultrathin single-layer barrier in LSI devices2016

    • Author(s)
      小出紘之
    • Organizer
      Advanced metallization conference Asian session
    • Place of Presentation
      東京大学(東京都文京区)
    • Year and Date
      2016-10-20
    • Int'l Joint Research
  • [Presentation] Amorphous Co-Ti alloy as a single layer barrier for Co local interconnect structure2016

    • Author(s)
      Maryamsadat Hosseini
    • Organizer
      IITC/AMC 2016
    • Place of Presentation
      San Jose, USA
    • Year and Date
      2016-05-25
    • Int'l Joint Research

URL: 

Published: 2018-01-16   Modified: 2022-08-25  

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