2016 Fiscal Year Annual Research Report
高効率かつ高信頼で長時間動作可能な「もの」のインターネット機器の実現
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15H02677
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| Research Institution | Kyoto Institute of Technology |
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Principal Investigator |
小林 和淑 京都工芸繊維大学, 電気電子工学系, 教授 (70252476)
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| Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) |
古田 潤 京都工芸繊維大学, 電気電子工学系, 助教 (30735767)
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| Project Period (FY) |
2015-04-01 – 2019-03-31
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| Keywords | IoT / 一時故障 / ソフトエラー / 経年劣化 / BTI / パワエレ |
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| Outline of Annual Research Achievements |
前年度の検討結果を元に2年目にFD-SOIプロセスを用いて, 極低電圧で動作するIoT機器向け高信頼性マイコンの設計を行った. 前年度に試作したチップにより信頼性の評価はα線，中性子による加速試験を用いて行った. 高効率かつ小型のDC/DC変換器の実現のために，ゲートドライブ回路も含めてその1チップ化を行った．研究成果は，SOIに特化したS3S, パワーエレクトロニクスのWiPDA, 耐放射線半導体に関するRADECSなど多数の国際会議で発表を行い，その成果の社会への発信に努めた．S3Sでは，レイアウト構造に起因する一時故障耐性の評価結果を発表し，SOIに関わる多くの研究者から高く評価された．WiPDAでは前年度に試作した高耐圧0.18μm CMOSプロセスにて試作したゲートドライブ回路に関する発表を行った．NSRECでは宇宙でも高い信頼性を持つSOIプロセス向けの非多重化フリップフロップの重イオンによる評価結果について発表を行った．その他国内会議でも多数の発表を行った．さらに，5社もの企業との共同研究にもつなげた．IoTをさらに発展させた自動車向け半導体，宇宙用のIoTと言える人工衛星向けLSI，一時故障のシミュレーションモデルの開発など，本研究課題から派生した課題に関しても大きな成果を上げた．今後は研究成果のさらなる発信を行うとともに，その成果が実社会に役立てるため，企業との共同研究課題へのさらなる発展を目指す．
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| Current Status of Research Progress |
Current Status of Research Progress
2: Research has progressed on the whole more than it was originally planned.
Reason
ゲートドライブ回路や信頼性評価チップの設計とその評価を行っている．ただし，マイコンについてはRTLの入手に時間がかかったため，その試作を行うことができなかった．
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| Strategy for Future Research Activity |
今年度に入手したマイコンのRTLを用いて信頼性の高いIoTに向けたシステムの実装を行う予定である．
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