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2016 Fiscal Year Annual Research Report

FPGAによるエレクトロマイグレーション原子の高速移動制御と原子接合構造の作製

Research Project

Project/Area Number 15H03970
Research InstitutionTokyo University of Agriculture and Technology

Principal Investigator

白樫 淳一  東京農工大学, 工学(系)研究科(研究院), 教授 (00315657)

Project Period (FY) 2015-04-01 – 2018-03-31
Keywordsマイクロ・ナノデバイス / FPGA / エレクトロマイグレーション / 単原子トランジスタ / 原子ギャップ
Outline of Annual Research Achievements

本研究では、金属細線でのエレクトロマイグレーション現象を利用し、金属原子を室温で一つずつ移動させることが可能な、新しい原子移動操作技術の開発を行う。具体的には、原子スケールの接点構造である「原子接合」や、原子スケールのギャップ構造「原子ギャップ」を作製する。これらの技術を応用し、原子1個~数個分の島電極を有する単電子トランジスタである「“単原子”トランジスタ」の実現を目指す。技術的には、金属細線でのエレクトロマイグレーションの発現強度を、印加電圧のその場フィードバック制御により調整する。本研究では、Field-Programmable Gate Array(FPGA)を用いたカスタムハードウェアを独自に構築し、原子を高速に移動制御する技術を開発する。これより、“エレクトロマイグレーション”という簡単な手法にて原子スケールデバイス技法の開拓を行い、単原子機能の発現・制御手法の確立を目指す。
次年度(平成28年度)では、FPGAを利用した電圧フィードバック制御型エレクトロマイグレーション専用のカスタムハードウェアを構築した。実際に、FPGAカスタムハードウェアを用いて、Au細線に対して電圧フィードバック制御型エレクトロマイグレーション法を適用した。印加電圧の超高速なフィードバックを繰り返しながら計測制御が進行していることが確認でき、プロセス時間に注目すると、300ミリ秒で処理プロセスが終了し、構築したシステムによる計測制御の時間間隔がマイクロ秒オーダーであることが明らかとなった。また、当該制御プロセス中におけるAu細線でのコンダクタンスは量子化され、離散的に変化した。これはエレクトロマイグレーションによりAu細線が徐々に狭窄化され、室温下において量子ポイントコンタクト(=原子が1個~数10個ほどで形成された原子スケールの接合構造)が形成されたことを示している。

Current Status of Research Progress
Current Status of Research Progress

2: Research has progressed on the whole more than it was originally planned.

Reason

本研究課題では、FPGAを用いた専用カスタムハードウェアによる超高速エレクトロマイグレーション計測制御技法を開発し、Au細線のコンダクタンスが300ミリ秒で1G0以下まで減少していることが確認した。これより、Au細線の狭窄部では、制御プロセス開始から180ミリ秒ほどで原子数が1~2個の原子接合が形成され、その後、185-190ミリ秒ほどで、狭窄部の原子数が1個以下となり、原子スケールのギャップ構造(=トンネルギャップ)が形成されたことが明らかとなった。これより、原子接合や原子ギャップなどの原子スケール構造体をミリ秒という時間スケールで超高速に制御可能な作製技術の開発に成功した。

Strategy for Future Research Activity

最終年度(平成29年度)では、これまでに開発してきたFPGAを用いた専用カスタムハードウェアによる超高速エレクトロマイグレーション計測制御技術により、アイランド電極のサイズが原子1個~数個ほどの単原子トランジスタ(Single-Atom Transistor: SAT)の開発を目指す。本研究で検討してきた「原子接合」や「原子ギャップ」の作製過程を精緻に制御することで、数ナノメートルのギャップ空間内に原子1個~数個を配置させることで、SAT構造を作製する。これは、究極的な単電子トランジスタと考えられ、いわば固体素子において、アイランドに存在する単原子の電子親和力やイオン化エネルギー(=電子状態)を直接制御できる可能性がある。

  • Research Products

    (6 results)

All 2017 2016 Other

All Journal Article (3 results) (of which Peer Reviewed: 2 results) Presentation (2 results) (of which Int'l Joint Research: 2 results,  Invited: 1 results) Remarks (1 results)

  • [Journal Article] 自然収束動作を利用したイジングコンピューティング技術の開発とFPGAへの実装2017

    • Author(s)
      木原裕介、伊藤光樹、齋藤孝成、塩村真幸、酒井正太郎、白樫淳一
    • Journal Title

      電子情報通信学会技術研究報告

      Volume: 116 Pages: 23-28

  • [Journal Article] Reductive Deposition of Thin Cu Films Using Ballistic Hot Electrons as a Printing Beam2016

    • Author(s)
      R. Suda, M. Yagi, A. Kojima, N. Mori, J. Shirakashi and N. Koshida
    • Journal Title

      J. Electrochem. Soc.

      Volume: 163 Pages: E162-E165

    • DOI

      10.1149/2.0921606jes

    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] Field-Emission-Induced Electromigration Method for Precise Tuning of Electrical Properties of Ni-Based Single-Electron Transistors2016

    • Author(s)
      M. Kase, K. Okada M. Ito and J. Shirakashi
    • Journal Title

      Conference Proceedings, 2015 International Conference on Manipulation, Manufacturing and Measurement on the Nanoscale (3M-NANO)

      Volume: 15836891 Pages: 202-205

    • DOI

      10.1109/3M-NANO.2015.7425487

    • Peer Reviewed
  • [Presentation] Feedback-Controlled Electromigration (FCE) Method with Automatically Optimized Parameters2016

    • Author(s)
      N. Numakura, Y. Iwata and J. Shirakashi
    • Organizer
      Pacific Rim Symposium on Surfaces, Coatings and Interfaces (PacSurf 2016)
    • Place of Presentation
      Hawaii, USA.
    • Year and Date
      2016-12-11 – 2016-12-15
    • Int'l Joint Research
  • [Presentation] Controlled Electromigration Method for the Fabrication of Nanoscale Junction Devices2016

    • Author(s)
      J. Shirakashi
    • Organizer
      Emerging Technologies 2016
    • Place of Presentation
      Montreal, QC, Canada.
    • Year and Date
      2016-05-25 – 2016-05-27
    • Int'l Joint Research / Invited
  • [Remarks] 白樫研究室HP

    • URL

      http://web.tuat.ac.jp/~nanotech/index.htm

URL: 

Published: 2018-01-16  

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