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2015 Fiscal Year Research-status Report

製造過程でのトロイ回路混入を検知するLSI設計技術に関する研究

Research Project

Project/Area Number 15K00086
Research InstitutionKyoto Sangyo University

Principal Investigator

吉村 正義  京都産業大学, コンピュータ理工学部, 准教授 (90452820)

Project Period (FY) 2015-04-01 – 2018-03-31
Keywordsハードウェアトロイ回路 / トロイ検出用回路 / LSI / 挿入箇所探索アルゴリズム / ベンチマーク回路
Outline of Annual Research Achievements

本年度は製造後のLSI中にハードウェアトロイ回路が含まれているかを網羅的に検出するために用いるLSIに搭載するトロイ検出回路の構成とそのトロイ検出回路をLSI中のどこに挿入すれば良いかについて検討を行った.
まず,ハードウェアトロイ回路を検出するための,トロイ検出用回路の構成を幾つか発案した.その回路構成ごとに特性を比較した.その結果,最も特性の良い回路構成を決定した.その構成は論理ゲート1つであり,挿入する信号線の入力側のゲートに応じて,論理ゲートの特性が変化するものであった.
次に,そのトロイ検出用回路の挿入箇所の決定方法の検討を行った.この決定方法は十分吟味できておらず,本年度は単純な貪欲法に基づいた手法のみを考案した.
最後に検討したトロイ検出用回路の構成とそのトロイ検出用回路の挿入箇所決定方法を複数のベンチマーク回路に適用し,トロイ検出用回路の構成とそのトロイ検出用回路の挿入箇所の特性を評価した.今回はプログラムの実装が間に合わなかったため,手動でベンチマーク回路に適用した.その結果,LSIの面積オーバーヘッドが100%ととても高いことがわかった.
次年度以降は,トロイ検出用回路の挿入箇所の決定方法を再検討する必要がある.何故ならば,面積オーバーヘッドを削減するためである.また挿入箇所決定手法をプログラムで実装することも必要である.これらを通じて,より多くの回路に対して,面積オーバーヘッドが少ないトロイ回路検出箇所挿入探索方法の検討と評価を行う.

Current Status of Research Progress
Current Status of Research Progress

3: Progress in research has been slightly delayed.

Reason

予定していたトロイ回路の考案は完了した.しかしトロイ回路挿入箇所探索アルゴリズムは完成できていない.この遅れを取り戻す必要がある.

Strategy for Future Research Activity

トロイ検出用回路の挿入箇所探索アルゴリズムを早急に検討し評価を行う.

Causes of Carryover

研究が予定より遅れたため,発表予定の旅費及び物品の購入が遅れた.

Expenditure Plan for Carryover Budget

学会発表のための旅費及び,物品費としてFPGAボード購入に充当する.

  • Research Products

    (6 results)

All 2016 2015

All Presentation (6 results) (of which Int'l Joint Research: 2 results)

  • [Presentation] トロイ回路を検知する回路の考察2016

    • Author(s)
      大山浩平, 吉村正義
    • Organizer
      第8回LSIテストセミナー
    • Place of Presentation
      電気ビル共創館(福岡県福岡市)
    • Year and Date
      2016-03-02
  • [Presentation] 静的テスト圧縮のための多重目標故障テスト生成を用いたMバイNアルゴリズム2015

    • Author(s)
      原侑也, 山崎紘史, 細川利典, 吉村正義
    • Organizer
      デザインガイア2015
    • Place of Presentation
      長崎県勤労福祉会館(長崎県長崎市)
    • Year and Date
      2015-12-03
  • [Presentation] A Sequence Generation Method to detect Hardware Trojan Circuits2015

    • Author(s)
      Masayoshi Yoshimura, Tomohiro Bouyashiki and Toshinori Hosokawa
    • Organizer
      16th IEEE Workshop on RTL and High Level Testing 2015
    • Place of Presentation
      Indian Institute of Technology Bombay, Bombay, India
    • Year and Date
      2015-11-25
    • Int'l Joint Research
  • [Presentation] A Don’t Care Filling Method to Reduce Capture Power based on Correlation of FF Transitions2015

    • Author(s)
      Masayoshi Yoshimura, Yoshiyasu Takahashi, Hiroshi Yamazaki and Toshinori Hosokawa
    • Organizer
      24th IEEE Asian Test Symposium 2015
    • Place of Presentation
      Indian Institute of Technology Bombay, Bombay, India
    • Year and Date
      2015-11-23
    • Int'l Joint Research
  • [Presentation] VLSI設計工程時における未遷移信号線情報に基づいたトロイ回路検出法2015

    • Author(s)
      坊屋鋪知拓,細川利典,吉村正義
    • Organizer
      DAシンポジウム2015
    • Place of Presentation
      山代温泉 ゆのくに天祥(石川県加賀市)
    • Year and Date
      2015-08-28
  • [Presentation] BASTにおけるスキャンスライスに基づくテストデータ削減法2015

    • Author(s)
      錦織誠, 山崎紘史, 細川利典, 新井雅之, 吉村正義
    • Organizer
      ディペンダブルコンピューティング研究会
    • Place of Presentation
      機械振興会館, 東京都
    • Year and Date
      2015-06-16

URL: 

Published: 2017-01-06  

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