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2017 Fiscal Year Annual Research Report

Study on LSI design technology to detect Trojan circuit inserted during manufacturing process

Research Project

Project/Area Number 15K00086
Research InstitutionKyoto Sangyo University

Principal Investigator

吉村 正義  京都産業大学, コンピュータ理工学部, 准教授 (90452820)

Project Period (FY) 2015-04-01 – 2018-03-31
Keywordsハードウェアトロイ回路 / トロイ検出用回路 / LSI / 挿入箇所探索アルゴリズム / ベンチマーク回路 / 応答圧縮器
Outline of Annual Research Achievements

本年度は製造後のLSI中にハードウェアトロイ回路が含まれているかを網羅的に検出するために用いるLSIに追加するトロイ検出用回路の効果的な挿入箇所を探索する手法について検討した.昨年度,この探索手法は大域的な探索手法を用いてたが,まだまだ追加するゲート数が多くなり,面積オーバーヘッドが大きいという欠点があった.そこで本年度はこの面積オーバーヘッドをさらに削減することを目的として,探索手法について検討を行った.今年度はできるだけ論理的に最適に近づくように,数理的なアルゴリズムを用いた探索手法を考案し,挿入箇所探索プログラムを作成した.それぞれのプログラムを複数のベンチマークに適用し,面積オーバーヘッドを比較した.その結果,従来の手法より,挿入箇所数を削減できた.
また多数の入力に対する出力応答の圧縮回路についても引き続き検討を行った.圧縮回路が持つべき性質として,少なくとも一つの分割された回路からの入力が誤っている際に,誤った値を出す性質が必要であることがわかった.これは本手法は多数に回路分割をおこなうため,分割された多数の回路から多数の圧縮器にそれぞれにデータを送り,個別の圧縮器でで圧縮し,その結果を比較することで,誤りを見逃す確率を削減することができることがわかった.
この提案手法について,全体的な構成の検討を行った.パタン生成器は共有可能であるが,応答圧縮器は共有すると見逃し確率が高くなることが懸念されることがわかった.
最終的に,論理的な回路分割手法の提案と実装,小規模回路での評価,応答圧縮機の構成の検討,提案手法全体の回路構成について達成できた.しかし回路分割の現実的な規模の回路における評価,提案する応答圧縮器の実装および評価,提案手法全体の実装評価が達成できなかった.

  • Research Products

    (12 results)

All 2018 2017

All Journal Article (1 results) (of which Peer Reviewed: 1 results) Presentation (11 results) (of which Int'l Joint Research: 5 results)

  • [Journal Article] A Don't Care Filling Method for Low Capture Power based on Correlation of FF Transitions Using SAT2017

    • Author(s)
      Masayoshi YOSHIMURA, Yoshiyasu TAKAHASHI, Hiroshi YAMAZAKI, Toshinori HOSOKAWA
    • Journal Title

      IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences

      Volume: E100.A Pages: 2824-2833

    • DOI

      10.1587/transfun.E100.A.2824

    • Peer Reviewed
  • [Presentation] A Test Register Assignment Method to Reduce the Number of Test Patterns Using Controller Augmentation2018

    • Author(s)
      Shun Takeda, Toshinori Hosokawa, Hiroshi Yamazaki, and Masayoshi Yoshimura
    • Organizer
      DUHDe 2018 ― 5th Workshop on Design Automation for Understanding Hardware Designs
    • Int'l Joint Research
  • [Presentation] A Secure Design Method to Detect for Trojan Circuit inserted in Manufacturing Process2018

    • Author(s)
      Yoshinobu Okuda, Masayoshi Yoshimura, Kohei Ohyama, and Toshinori Hosokawa
    • Organizer
      DUHDe 2018 ― 5th Workshop on Design Automation for Understanding Hardware Designs
    • Int'l Joint Research
  • [Presentation] コントローラ拡大 を用いた遷移故障テストパターン数削減のための演算器のテストレジスタ割当 て法2018

    • Author(s)
      竹内 勇希, 武田 俊, 細川 利典, 山崎 紘史, 吉村 正義
    • Organizer
      ディペンダブルコンピューティング研究会
  • [Presentation] Controller augmentation and test point insertion at RTL for concurrent operational unit testing2017

    • Author(s)
      Toshinori Hosokawa, Shun Takeda, Hiroshi Yamazaki, and Masayoshi Yoshimura
    • Organizer
      2017 IEEE 23rd International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS)
    • Int'l Joint Research
  • [Presentation] A Sequentially Untestable Fault Identification Method Based on State Cube Justification2017

    • Author(s)
      Morito Niseki, Toshinori Hosokawa, Hiroshi Yamazaki, Masayuki Arai, Masayoshi Yoshimura, Hiroyuki Yotsuyanagi and Masaki Hashizume
    • Organizer
      IEEE The Eighteenth Workshop on RTLT and High Level Testing 2017
    • Int'l Joint Research
  • [Presentation] A Low Power Oriented Static Test Compaction Method Based on Don't Care Bits2017

    • Author(s)
      Sayuri Ochi, Hiroshi Yamazaki, Toshinori Hosokawa, Masayoshi Yoshimura
    • Organizer
      IEEE The Eighteenth Workshop on RTLT and High Level Testing 2017
    • Int'l Joint Research
  • [Presentation] フリップフロップ組合せの状態正当化による到達不能状態を用いた順 序回路のテスト不能故障判定法2017

    • Author(s)
      二関 森人, 細川 利典, 吉村 正義, 山崎 紘史, 新井 雅之, 四柳 浩之, 橋爪 正樹
    • Organizer
      DAシンポジウム2017
  • [Presentation] ドントケアを用いたキャ プチャセーフテスト集合の静的テスト圧縮法2017

    • Author(s)
      越智 小百合, 山崎 紘史, 細川 利典, 吉村 正義
    • Organizer
      DAシンポジウム2017
  • [Presentation] IPコアの論理暗号化法の復号化鍵数の評価2017

    • Author(s)
      橋立 英実, 細川 利典, 吉村正義
    • Organizer
      デザインガイア2017
  • [Presentation] コントローラ拡大を用いたレ ジスタ転送レベルにおけるテストパターン数削減のためのハードウェア要素の テストレジスタ割当て法2017

    • Author(s)
      武田 俊, 細川 利典, 山崎 紘史, 吉村 正義
    • Organizer
      デザインガイア2017
  • [Presentation] 製造過程でのトロイ回路混入を検知する 設計手法2017

    • Author(s)
      奥田 良宣, 吉村 正義, 大山 浩平
    • Organizer
      デザインガイア2017

URL: 

Published: 2018-12-17  

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