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2016 Fiscal Year Research-status Report

ビッグデータの高速検索処理を可能にする超低消費電力レシオレスCAMの研究

Research Project

Project/Area Number 15K06021
Research InstitutionKyushu Institute of Technology

Principal Investigator

中村 和之  九州工業大学, マイクロ化総合技術センター, 教授 (60336097)

Project Period (FY) 2015-10-21 – 2018-03-31
KeywordsSRAM / CAM / TCAM / レシオレス / 低電圧 / 低消費電力 / 検索 / ハードウエアエンジン
Outline of Annual Research Achievements

本研究は、超低電圧下での動作を可能としたレシオレスSRAM技術を、高速パケット処理に広く利用されるCAM(Content Addressable Memory) 回路へ適用し、素子ばらつきや経年劣化の影響を受けずに、高速かつ超低消費電力な検索ハードウエアエンジンを実現するものである。これまでに、レシオレスSRAMセルを、T-CAM(3値CAM)セルへ展開する場合の課題と、共通マッチ線回路のレシオレス化に関しての検討を行った。その結果、超低電圧動作が可能なCAMセルを構成するためには、18個のトランジスタが必要であること、共通マッチ線には、階層化した完全スタティックなCMOS回路を用いる必要があることが分かった。これらの検討結果から、今年度は、レシオレスT-CAM回路の第1次実証チップの設計と試作を行った。実測による比較を行うために、従来の6トランジスタSRAM技術で実現した同構成のT-CAM回路も設計した。今年度第4四半期には、試作チップが納入され、測定を開始した。現在の詳細評価中であるが、従来の6トランジスタ型SRAMを用いたT-CAMに対して、少なくとも半分以下の電源電圧で動作することを確認できたため、国際学会への投稿準備を進めている。さらには、過去に設計したチップの詳細評価により、MOSFETのしきい値ばらつきの影響がレシオレスSRAMセルの動作に与える影響に関しての測定データを得ることができ、さらには、従来の6トランジスタ型SRAMとの比較データも得られたことから、国際学会での発表を行った。

Current Status of Research Progress
Current Status of Research Progress

2: Research has progressed on the whole more than it was originally planned.

Reason

今年度は、プライオリティエンコーダ等の周辺回路を含めた、T-CAM回路すべての設計を終え、予定通り、レシオレスT-CAM回路の第1次実証チップの設計を完成させることができた。その後、従来の6トランジスタSRAM技術で実現した同構成のT-CAM回路も設計し、合計2品種のチップの試作を行った。今年度第4四半期には、それらのチップの測定を開始することができた。、現在詳細評価中であるが、従来技術の6トランジスタ型SRAMを用いたT-CAMに対して、少なくとも半分以下の電源電圧で動作することが確認できている。

Strategy for Future Research Activity

試作チップの評価結果を、国際学会へ投稿し、発表と論文化を行う。測定結果より、第1次試作での課題を検討し、回路を修正した第2次試作を行う。

  • Research Products

    (3 results)

All 2017 2016

All Journal Article (1 results) (of which Peer Reviewed: 1 results,  Open Access: 1 results,  Acknowledgement Compliant: 1 results) Presentation (2 results) (of which Int'l Joint Research: 2 results)

  • [Journal Article] Self-stabilization techniques for intermediate power level in stacked-Vdd integrated circuits using DC-balanced coding methods2016

    • Author(s)
      Yusuke Kohara, Naoya Kubo, Tomofumi Nishiyama, Taiki Koizuka, Mohammad Alimudin, Amirul Rahmat, Hitoshi Okamura, Tomoyuki Yamanokuchi, Kazuyuki Nakamura
    • Journal Title

      Japanese Journal of Applied Physics

      Volume: 55 Pages: pp.04EF06-1-7

    • DOI

      10.7567/JJAP.55.04EF06

    • Peer Reviewed / Open Access / Acknowledgement Compliant
  • [Presentation] Vth-Shiftable SRAM Cell TEGs for Direct Measurement for the immunity of the Threshold Voltage Variability2017

    • Author(s)
      S. Yamaguchi, H. Imi, S. Tokumaru, T Kondo, H. Yamamoto, K. Nakamura
    • Organizer
      IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS) 2017
    • Place of Presentation
      Grenoble, FRANCE
    • Year and Date
      2017-03-28 – 2017-03-28
    • Int'l Joint Research
  • [Presentation] Vth-Shiftable SRAM Cell TEGs for Direct Measurement for the immunity of the Threshold Voltage Variability2016

    • Author(s)
      S. Yamaguchi, H. Imi, S. Tokumaru, K. Nakamura
    • Organizer
      IEEE/ACM Workshop on Variability Modeling and Characterization
    • Place of Presentation
      Austin,TX,USA
    • Year and Date
      2016-11-10 – 2016-11-10
    • Int'l Joint Research

URL: 

Published: 2018-01-16  

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