2017 Fiscal Year Annual Research Report
Molecular mechanism of nerve regeneration and sensory disorder following axonal injury
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15K11057
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| Research Institution | Nihon University |
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Principal Investigator |
近藤 真啓 日本大学, 歯学部, 講師 (50312294)
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2015-10-21 – 2018-03-31
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| Keywords | 神経損傷 / 下歯槽神経 / 細胞接着分子 / CGRP / IB4 |
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| Outline of Annual Research Achievements |
下歯槽神経切断（IANX）モデルを作製し、下唇部に機械または熱刺激を与え、頭部引込め反射閾値（HWT）を測定した。IANX 3日後、機械または熱刺激に対するHWTの有意な上昇が認められ、回復傾向を示しつつも、IANX 4週後まで痛覚鈍麻状態が続いた。
IANX後のペプチド性・非ペプチド性ニューロンの再生過程およびE-cadherinの発現変化を解析した。IANX 3日後、三叉神経節（TG）においてCGRPおよびIB4陽性細胞数が顕著に減少したが、IANX 2週後には対照群レベルまで回復した。オトガイ皮下にFGを注入し、TGにおける陽性細胞数を調べた結果、IANX 3日後に減少し、2週間後に回復傾向を示した。以上の結果は、損傷下歯槽神経の少なくとも一部はIANX 2週後には適切な受容野へと軸索を再生することを示している。一方、Vc領域では、IANX 3日後、CGRP-IR、IB4結合性、E-cadherin-IRの著しい減少が観察され、IANX 2週後、CGRP-IRは回復したが、IB4結合性およびE-cadherin-IRは回復しなかった。この結果は、ペプチド性ニューロンでより再生が起こりやすいことを示している。
IANX後の再生過程で、感覚情報が適切な神経細胞に伝達されるか否かを、オトガイ皮膚への侵害刺激により生じるVc領域でのERK活性（pERK）をもとに解析した。pERK陽性細胞はIANX 3日後に減少し、2週後に回復傾向を示した。この際、機械刺激依存性のpERK陽性細胞の分布様式が変化した。これは、損傷した神経回路が再生過程に修飾されたことを示唆している。
IANX直後にVc領域へGDNFを単回投与し、2週間後のVcにおけるE-cadherin発現およびHWTを解析した。神経損傷に伴うE-cadherin発現の減少は救済されず、HWTも上昇した状態（痛覚鈍麻）が持続した。
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