2016 Fiscal Year Research-status Report
フィールドでの一時故障への耐性を重視した非同期式回路の高信頼設計に関する研究
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15K15961
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| Research Institution | Hiroshima City University |
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Principal Investigator |
岩垣 剛 広島市立大学, 情報科学研究科, 助教 (00397845)
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2015-04-01 – 2018-03-31
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| Keywords | 非同期式回路 / 高位合成 / 劣化故障 / 遅延故障 / 演算器バインディング |
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| Outline of Annual Research Achievements |
本研究では，非同期式回路を対象とした，LSI出荷後のフィールドでの信頼性向上に主眼をおいた高位合成法（データフローグラフ等で与えられたシステムの動作記述からレジスタ転送レベルの回路を合成する技術）の確立を目指している．
本年度は，その取組みの一つとして，フィールドで懸念される劣化故障（回路の経年劣化等によって遅延が増大する故障）を対象とした非同期システムの高位合成法について議論した．具体的には，高位合成の一工程である演算器バインディング（データフローグラフ上の演算を演算器に割り当てる処理）が，回路の劣化故障耐性（回路の寿命）に与える影響について実験的に評価・解析した．演算器バインディングの戦略として，与えられた演算器数制約の下で 1. データフローグラフにおけるクリティカルパス（パスの長さが最も大きな箇所）上の演算をなるべく一つの演算器に割り当てる戦略，2. クリティカルパス上の演算をなるべく異なる演算器に割り当てる戦略，3. 1と2の間の戦略，の三つを試行し，ベンチマーク回路を用いて評価した．演算器が均一に劣化するモデルの下では，2の戦略が有効であることを明らかにし，現在，異なる劣化モデルの下での考察をおこなっている．本年度の成果の一部を査読付き国際ワークショップ及び国内研究会で発表した．
また前年度に取り組んだ「ハンドシェイク遅延に着目した非同期システムの高位合成法」の成果をまとめ，国内の英文論文誌にも投稿した．
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| Current Status of Research Progress |
Current Status of Research Progress
3: Progress in research has been slightly delayed.
Reason
フィールドでの劣化故障（永久故障）は，一時故障と同様にLSIのフィールドでの信頼性を脅かすものであり，劣化故障に対する耐故障性を議論することは一時故障に対する耐故障性の議論に繋がると考える．しかしながら，本年度の劣化故障に関する議論は研究当初に想定していたアプローチとは異なるため，研究計画に鑑みると若干の遅れは否めない．
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| Strategy for Future Research Activity |
LSI出荷後のフィールドでの信頼性向上に主眼をおいた高位合成法の確立に向けて，現在までの成果と残された課題を整理し，その解決に注力する．研究協力者の支援を強化することで，計算機実験等を含めた研究遂行の効率化を図る．
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| Causes of Carryover |
当初予算に計上していた国際会議の発表に係る経費が，論文の不採択により執行されなかったため，余剰金が生じた．
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| Expenditure Plan for Carryover Budget |
余剰金は，主に今後の国際会議の発表に係る経費及び研究協力者への人件費として活用する予定である．
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